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J-GLOBAL ID:201103021384176659
分散処理システム及びその性能モニタリング方法
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
Agent (1):
井上 学
Gazette classification:特許公報
Application number (International application number):2005171794
Publication number (International publication number):2005302057
Patent number:3945521
Application date: Jun. 13, 2005
Publication date: Oct. 27, 2005
Claim (excerpt):
【請求項1】所定の処理を実現可能なプログラムを実行する複数の第一の計算機と、複数の前記プログラムから構成される一連の処理を複数監視し、メモリを有する第二の計算機と、
を有するシステムであって、
前記第一の計算機は、一以上のプログラムを実行する実行手段と、前記プログラム間の呼出が発生する場合、前記呼出元のプログラムを特定する呼出元プログラム識別子と呼出先のプログラムを特定する呼出先プログラム識別子と呼出メッセージを特定する呼出メッセージ識別子と他のプログラムから呼び出された時刻と他のプログラムを呼び出した時刻とを含む性能データを第二の計算機に送信する送信手段とを有し、
前記第二の計算機は、前記性能データを受信する受信手段と、前記呼出元プログラム識別子と前記呼出先プログラム識別子と前記呼出メッセージ識別子とに基づいて一連の処理を構成する複数のプログラムの性能データを関連付ける関連付け手段と、前記関連付けた性能データを一連の処理ごとに前記メモリに格納する格納手段と、前記一の性能データに含まれる前記他のプログラムから呼び出された時刻と他のプログラムを呼び出した時刻とに基づいて前記プログラムの処理時間を算出し、前記関連付けた性能データに含まれる複数の前記呼出時刻に基づいて呼出関係にあるプログラム間の通信時間を算出する算出手段と、前記性能データの関連付けに基づいて一連の処理ごとに前記算出された通信時間と処理時間とを出力する出力手段とを有することを、特徴とするシステム。
IPC (2):
G06F 11/34 ( 200 6.01)
, G06F 11/32 ( 200 6.01)
FI (2):
G06F 11/34 M
, G06F 11/32 A
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (25)
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特開平1-276345
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情報処理装置における応答速度自動測定システム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-057077
Applicant:株式会社日立情報システムズ
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デバッグ支援装置及びデバッグ支援方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-234400
Applicant:株式会社東芝
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特開平1-181132
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特開平4-153743
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バッチ処理監視および検査システム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-198171
Applicant:株式会社日立製作所
-
デバッグシステム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-052095
Applicant:三菱電機株式会社
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マルチタスク処理装置、マルチタスク処理方法およびマルチタスク処理表示方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-038996
Applicant:株式会社東芝
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分散アプリケーション開発支援方法及び装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-018303
Applicant:株式会社東芝
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計算機システムの障害回復支援方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-252487
Applicant:株式会社日立製作所
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計算機システムの性能モニタリング方法およびシステム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-029951
Applicant:株式会社日立製作所, 日立超エル・エス・アイ・エンジニアリング株式会社
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組込みシステム中で実行されるソフトウェアを分析するための方法および装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-240782
Applicant:アプライドマイクロシステムズインコーポレイテッド
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プロファイル計装方法およびプロファイルデータ収集方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-216355
Applicant:富士通株式会社
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オブジェクトの遷移状況表示方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-191434
Applicant:株式会社日立製作所
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並列プログラム動作解析方法及びその装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-132253
Applicant:株式会社日立製作所
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ジョブ実行監視方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-230947
Applicant:日立ソフトウエアエンジニアリング株式会社
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オブジェクト指向プログラムの実行状態表示システム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-210955
Applicant:株式会社日立製作所
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プログラムトレース方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-238164
Applicant:日本電信電話株式会社
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プログラム解析支援装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-237402
Applicant:富士通株式会社
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トレース情報収集方式
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-159026
Applicant:北陸日本電気ソフトウェア株式会社
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情報処理システムの性能測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-088238
Applicant:富士ゼロックス株式会社
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並列計算機の性能評価方法及びその装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平3-345042
Applicant:富士通株式会社
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特開平3-273346
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特開平2-091736
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特開昭57-130158
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