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J-GLOBAL ID:201103021480847017

III族窒化物基板の製造方法およびIII族窒化物基板

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 速水 進治
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2009192834
Publication number (International publication number):2011042542
Application date: Aug. 24, 2009
Publication date: Mar. 03, 2011
Summary:
【課題】欠陥密度が低く高品質な半極性面III族窒化物基板の製造方法を提供する。【解決手段】サファイア基板10を用意する工程と、サファイア基板10上に、アルミニウムと窒素とを含む中間層11を、1100°C以上1300°C以下の成長温度で気相成長法により形成する工程と、前記中間層11の上にIII族窒化物層12を成長する工程とを含む。サファイア基板10は、中間層11を成長させる主面が、当該サファイア基板10のm軸と垂直、あるいは、当該サファイア基板10のm軸に対し傾斜している。また、前記III族窒化物層12を成長する工程においては、第一の薄膜層12aの上にマスクを形成してから第2の厚膜層12bを形成してもよく、これにより第一の薄膜層12aと第2の厚膜層12bの間の結合強度を低下させ、比較的小さな応力で下地基板10を容易に剥離し、III族窒化物層12の自立基板を得ることができる。【選択図】図1
Claim (excerpt):
サファイア基板を用意する工程と、 前記サファイア基板上に、アルミニウムと窒素とを含む中間層を、1100°C以上1300°C以下の成長温度で気相成長法により形成する工程と、 前記中間層の上にIII族窒化物層を成長させる工程と を含み、 前記サファイア基板は、前記中間層を成長させる主面が、当該サファイア基板のm軸と垂直、あるいは、当該サファイア基板のm軸に対し傾斜しているIII族窒化物基板の製造方法。
IPC (5):
C30B 29/38 ,  C30B 25/18 ,  C30B 25/04 ,  C23C 16/34 ,  H01L 21/205
FI (5):
C30B29/38 D ,  C30B25/18 ,  C30B25/04 ,  C23C16/34 ,  H01L21/205
F-Term (59):
4G077AA02 ,  4G077AA03 ,  4G077AB01 ,  4G077AB08 ,  4G077BE15 ,  4G077DB05 ,  4G077DB08 ,  4G077ED05 ,  4G077ED06 ,  4G077EF03 ,  4G077EH06 ,  4G077FJ03 ,  4G077HA02 ,  4G077HA12 ,  4G077TB03 ,  4G077TB05 ,  4G077TC13 ,  4G077TC14 ,  4G077TJ02 ,  4G077TK01 ,  4G077TK06 ,  4G077TK08 ,  4G077TK11 ,  4K030AA03 ,  4K030AA11 ,  4K030AA13 ,  4K030AA17 ,  4K030AA18 ,  4K030BA02 ,  4K030BA08 ,  4K030BA38 ,  4K030BB02 ,  4K030BB12 ,  4K030CA05 ,  4K030CA12 ,  4K030DA03 ,  4K030FA10 ,  4K030JA01 ,  4K030JA10 ,  4K030LA14 ,  5F045AA04 ,  5F045AB09 ,  5F045AB14 ,  5F045AC03 ,  5F045AC08 ,  5F045AC12 ,  5F045AC13 ,  5F045AC15 ,  5F045AD15 ,  5F045AD16 ,  5F045AD17 ,  5F045AF09 ,  5F045AF13 ,  5F045CA11 ,  5F045CA12 ,  5F045DA53 ,  5F045DB02 ,  5F045GH09 ,  5F045HA12
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
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