Pat
J-GLOBAL ID:201103039864979685
積層酸化物材料、半導体装置、および半導体装置の作製方法
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2010262853
Publication number (International publication number):2011135064
Application date: Nov. 25, 2010
Publication date: Jul. 07, 2011
Summary:
【課題】本発明の一態様は、スパッタ法でトランジスタ、ダイオード等の半導体用途に好適な材料を提供することを課題の一とする。【解決手段】下地部材上に、第1の酸化物部材を形成し、第1の加熱処理を行って表面から内部に向かって結晶成長し、下地部材に少なくとも一部接する第1の酸化物結晶部材を形成し、第1の酸化物結晶部材上に第2の酸化物部材を形成し、第2の加熱処理を行って第1の酸化物結晶部材を種として結晶成長させて第2の酸化物結晶部材を設ける積層酸化物材料の作製方法である。【選択図】図1
Claim (excerpt):
下地部材上に、酸化物部材を形成し、
加熱処理を行って表面から内部に向かって結晶成長し、前記下地部材に少なくとも一部接する第1の酸化物結晶部材を形成し、
前記第1の酸化物結晶部材上に第2の酸化物結晶部材を積層して設ける積層酸化物材料の作製方法。
IPC (9):
H01L 21/20
, H01L 21/336
, H01L 29/786
, G02F 1/136
, G02F 1/167
, G02F 1/17
, H01L 21/203
, H01L 51/50
, H05B 33/14
FI (13):
H01L21/20
, H01L29/78 618A
, H01L29/78 618B
, H01L29/78 618E
, H01L29/78 620
, H01L29/78 627G
, H01L29/78 618Z
, G02F1/1368
, G02F1/167
, G02F1/17
, H01L21/203 S
, H05B33/14 A
, H05B33/14 Z
F-Term (153):
2H092JA26
, 2H092KA03
, 2H092KA08
, 2H092MA05
, 2H092MA08
, 2H092MA13
, 2H092MA17
, 2H092MA29
, 2H092NA22
, 2H092NA26
, 2H092NA27
, 2K101AA04
, 2K101AA08
, 2K101BA02
, 2K101BA12
, 2K101BB43
, 2K101BD61
, 2K101EC08
, 2K101ED13
, 2K101EE02
, 2K101EH02
, 2K101EH03
, 2K101EH12
, 2K101EH14
, 2K101EJ22
, 2K101EJ33
, 2K101EK35
, 3K107AA01
, 3K107AA05
, 3K107BB01
, 3K107BB08
, 3K107CC33
, 3K107EE04
, 3K107EE58
, 3K107EE59
, 3K107FF04
, 3K107FF14
, 3K107FF15
, 3K107FF17
, 5F103AA08
, 5F103BB22
, 5F103BB42
, 5F103DD30
, 5F103GG02
, 5F103LL13
, 5F103PP03
, 5F103RR06
, 5F110AA06
, 5F110AA08
, 5F110AA14
, 5F110BB02
, 5F110BB03
, 5F110CC07
, 5F110DD01
, 5F110DD02
, 5F110DD03
, 5F110DD04
, 5F110DD05
, 5F110DD07
, 5F110DD13
, 5F110DD14
, 5F110DD15
, 5F110DD17
, 5F110EE02
, 5F110EE03
, 5F110EE04
, 5F110EE06
, 5F110EE14
, 5F110EE15
, 5F110EE30
, 5F110EE38
, 5F110FF01
, 5F110FF02
, 5F110FF03
, 5F110FF04
, 5F110FF09
, 5F110FF28
, 5F110FF30
, 5F110GG01
, 5F110GG13
, 5F110GG17
, 5F110GG19
, 5F110GG24
, 5F110GG25
, 5F110GG35
, 5F110GG43
, 5F110GG57
, 5F110GG58
, 5F110HK02
, 5F110HK03
, 5F110HK04
, 5F110HK06
, 5F110HK07
, 5F110HK21
, 5F110HK22
, 5F110HK33
, 5F110HL01
, 5F110HL02
, 5F110HL03
, 5F110HL04
, 5F110HL06
, 5F110HL07
, 5F110HL09
, 5F110HM13
, 5F110NN02
, 5F110NN03
, 5F110NN04
, 5F110NN05
, 5F110NN16
, 5F110NN22
, 5F110NN23
, 5F110NN24
, 5F110NN25
, 5F110NN27
, 5F110NN33
, 5F110NN34
, 5F110NN36
, 5F110NN40
, 5F110NN71
, 5F110NN72
, 5F110PP01
, 5F110PP02
, 5F110PP10
, 5F110PP13
, 5F110PP29
, 5F110PP35
, 5F110QQ02
, 5F110QQ09
, 5F110QQ19
, 5F152AA01
, 5F152BB03
, 5F152CC02
, 5F152CC03
, 5F152CC06
, 5F152CC07
, 5F152CD13
, 5F152CD14
, 5F152CD15
, 5F152CD16
, 5F152CD17
, 5F152CD24
, 5F152CE01
, 5F152CE16
, 5F152CE24
, 5F152EE14
, 5F152EE16
, 5F152FF11
, 5F152FF14
, 5F152FF15
, 5F152FF16
, 5F152FF17
, 5F152FF21
, 5F152FF30
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (7)
-
積層酸化物材料、半導体装置、および半導体装置の作製方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2010-262862
Applicant:株式会社半導体エネルギー研究所
-
Zn系半導体発光素子およびその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-317354
Applicant:信越半導体株式会社
-
トランジスタとこれを含む半導体素子及びそれらの製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2009-119199
Applicant:三星電子株式会社
-
薄膜トランジスタ及びその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-096983
Applicant:シャープ株式会社
-
半導体装置およびその製造方法ならびに電子デバイス
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2004-079273
Applicant:シャープ株式会社, 大野英男, 川崎雅司
-
酸化亜鉛半導体膜
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2009-000279
Applicant:カシオ計算機株式会社, 財団法人高知県産業振興センター
-
薄膜トランジスタ及びその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2008-198214
Applicant:出光興産株式会社
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