画像検査装置及び画像形成装置

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：伊東忠彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2010163261
Publication number (International publication number)：2011242379
Application date： Jul. 20, 2010
Publication date： Dec. 01, 2011
Summary：

【課題】被計測対象物の全域において光沢分布を高精度で検査可能な画像検査装置、及びこれを備えた画像形成装置を提供すること。【解決手段】画像が形成された被計測対象物に対して斜め方向から照明光を照射する光照明手段と、前記被計測対象物に照射された前記照明光の正反射光を受光する撮像手段と、前記撮像手段に前記正反射光を結像させる結像手段と、を有し、前記撮像手段の受光した前記正反射光の光量に基づいて前記画像を検査する画像検査装置であって、前記光照明手段は、複数の発光素子と、照明光生成手段と、を含み、前記照明光生成手段は、前記複数の発光素子が発する光の光路を変換し、前記被計測対象物に照射された際の正反射光が前記結像手段の瞳に対して入射する照明光を生成する。【選択図】図3

Claim (excerpt)：

画像が形成された被計測対象物に対して斜め方向から照明光を照射する光照明手段と、前記被計測対象物に照射された前記照明光の正反射光を受光する撮像手段と、前記撮像手段に前記正反射光を結像させる結像手段と、を有し、前記撮像手段の受光した前記正反射光の光量に基づいて前記画像を検査する画像検査装置であって、前記光照明手段は、複数の発光素子と、照明光生成手段と、を含み、前記照明光生成手段は、前記複数の発光素子が発する光の光路を変換し、前記被計測対象物に照射された際の正反射光が前記結像手段の瞳に対して入射する照明光を生成することを特徴とする画像検査装置。

IPC (3)：

G01N 21/84 , G01N 21/892 , B41F 33/14

FI (3)：

G01N21/84 E , G01N21/892 A , B41F33/14 G

F-Term (13)：

2C250EB39 , 2C250EB40 , 2G051AA34 , 2G051AB11 , 2G051AB20 , 2G051BA01 , 2G051BB01 , 2G051CA04 , 2G051CB01 , 2G051CB05 , 2G051CC11 , 2G051EA16 , 2G051EC02

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (8)

ライン照明装置及びライン照明装置を用いた検査装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2002-360313 Applicant：国際技術開発株式会社
印刷状態検査装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2001-311062 Applicant：三洋電機株式会社, 三洋ハイテクノロジー株式会社
表面検査装置及び方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2004-019990 Applicant：富士写真フイルム株式会社

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