Pat
J-GLOBAL ID:201103089070781594
多重アクティブチャネル層を用いた薄膜トランジスタ
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
安齋 嘉章
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2011516475
Publication number (International publication number):2011527108
Application date: Jun. 19, 2009
Publication date: Oct. 20, 2011
Summary:
本明細書に開示される実施形態は、概して、TFT及びTFTを製造する方法に関する。TFTにおいて、アクティブチャネルは、ソース及びドレイン電極間で電流を運ぶ。アクティブチャネルの組成を調整することによって、電流を制御できる。アクティブチャネルは、ゲート制御層、バルク層、インタフェース制御層の3層に分割されてもよい。別々の層は、異なる組成を有してもよい。ゲート制御層、バルク層、バックチャネルインタフェース制御層の夫々は、異なる組成を有することができる多重層を更に含んでもよい。アクティブチャネルの様々な層の組成は、酸素、窒素、及び、亜鉛、インジウム、カドミウム、スズ、ガリウム及びそれらの組み合わせから成る群から選択される1以上の元素を含む。所望の特性を有するTFTを生産するために、層の中で組成を変えることによって、様々な層の移動度、キャリア濃度、及び導電性を制御してもよい。
Claim (excerpt):
薄膜トランジスタであって、
ゲート電極及び基板の上に配置されるゲート誘電体層と、
前記基板の反対側に前記ゲート誘電体層と結合したアクティブチャネルとを含み、前記アクティブチャネルは、
酸素、窒素、及び、亜鉛、インジウム、スズ、カドミウム、及びガリウムから成る群から選択される1以上の元素を含み、第1組成を有する1以上のゲート制御層を含み、前記1以上のゲート制御層のうちの少なくとも1つは前記ゲート誘電体層に接触しており、
前記アクティブチャネルは、前記1以上のゲート制御層のうちの少なくとも1つに接触する1以上のバルク層を更に含み、前記1以上のバルク層は、酸素、窒素、及び、亜鉛、インジウム、スズ、カドミウム、及びガリウムから成る群から選択される1以上の元素を含み、前記第1組成とは異なる第2組成を有し、
前記アクティブチャネルは、前記1以上のバルク層のうちの少なくとも1つに接触する1以上のバックチャネルインタフェース制御層を更に含み、前記1以上のバックチャネルインタフェース制御層は、酸素、窒素、及び、亜鉛、インジウム、スズ、カドミウム、及びガリウムから成る群から選択される1以上の元素を含み、前記第1組成及び前記第2組成のうちの1以上と異なる第3組成を有し、
前記薄膜トランジスタは、前記1以上のバックチャネルインタフェース制御層のうちの少なくとも1つと結合するソース及びドレイン電極を更に含む薄膜トランジスタ。
IPC (4):
H01L 29/786
, H01L 21/336
, H01L 21/363
, H01L 21/316
FI (5):
H01L29/78 618E
, H01L29/78 618B
, H01L29/78 618A
, H01L21/363
, H01L21/316 X
F-Term (51):
5F058BC02
, 5F058BC03
, 5F058BC08
, 5F058BC11
, 5F058BD04
, 5F058BD05
, 5F058BD10
, 5F058BD15
, 5F058BF07
, 5F058BH16
, 5F058BJ01
, 5F103AA08
, 5F103BB22
, 5F103JJ10
, 5F103KK10
, 5F103LL13
, 5F103PP05
, 5F103RR05
, 5F110AA01
, 5F110BB01
, 5F110CC07
, 5F110DD01
, 5F110DD02
, 5F110EE03
, 5F110EE04
, 5F110EE06
, 5F110EE44
, 5F110FF01
, 5F110FF02
, 5F110FF03
, 5F110FF04
, 5F110FF27
, 5F110FF30
, 5F110FF36
, 5F110GG01
, 5F110GG19
, 5F110GG25
, 5F110GG32
, 5F110GG43
, 5F110GG57
, 5F110HK03
, 5F110HK04
, 5F110HK06
, 5F110HK32
, 5F110NN03
, 5F110NN04
, 5F110NN16
, 5F110NN22
, 5F110NN23
, 5F110NN35
, 5F110NN40
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
-
薄膜デバイス及びその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2006-217272
Applicant:日本電気株式会社, NEC液晶テクノロジー株式会社
-
非晶質酸化物、及び電界効果型トランジスタ
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2005-325366
Applicant:キヤノン株式会社, 国立大学法人東京工業大学
-
半導体装置及びその作製方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2006-262991
Applicant:株式会社半導体エネルギー研究所
-
半導体薄膜
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2005-258275
Applicant:キヤノン株式会社
-
成膜方法及び半導体装置の製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-072906
Applicant:三洋電機株式会社
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