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J-GLOBAL ID:201103092366546397
レジスト組成物及びそれを用いたパターン形成方法
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
Agent (18):
蔵田 昌俊
, 河野 哲
, 中村 誠
, 福原 淑弘
, 峰 隆司
, 白根 俊郎
, 村松 貞男
, 野河 信久
, 幸長 保次郎
, 河野 直樹
, 砂川 克
, 勝村 紘
, 佐藤 立志
, 岡田 貴志
, 堀内 美保子
, 竹内 将訓
, 市原 卓三
, 山下 元
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2010063408
Publication number (International publication number):2011197339
Application date: Mar. 19, 2010
Publication date: Oct. 06, 2011
Summary:
【課題】現像欠陥性能に優れたレジスト組成物及びそれを用いたパターン形成方法を提供する。【解決手段】酸の作用により分解してアルコール性ヒドロキシ基を生じる基を備えた繰り返し単位を含み且つ酸の作用により有機溶剤を含んだ現像液に対する溶解度が減少する樹脂と、活性光線又は放射線の照射により下記一般式(I)により表される酸を発生する化合物とを含有したレジスト組成物。【化1】【選択図】 なし
Claim (excerpt):
酸の作用により分解してアルコール性ヒドロキシ基を生じる基を備えた繰り返し単位を含み且つ酸の作用により有機溶剤を含んだ現像液に対する溶解度が減少する樹脂と、
活性光線又は放射線の照射により下記一般式(I)により表される酸を発生する化合物とを含有したレジスト組成物。
IPC (3):
G03F 7/038
, G03F 7/32
, G03F 7/039
FI (3):
G03F7/038 601
, G03F7/32
, G03F7/039 601
F-Term (45):
2H096FA10
, 2H096GA03
, 2H125AF17P
, 2H125AF19P
, 2H125AF21P
, 2H125AF36P
, 2H125AF38P
, 2H125AH05
, 2H125AH06
, 2H125AH14
, 2H125AH15
, 2H125AJ14X
, 2H125AJ65X
, 2H125AJ68X
, 2H125AM12P
, 2H125AM23P
, 2H125AM30P
, 2H125AM43P
, 2H125AM45P
, 2H125AM86P
, 2H125AM94P
, 2H125AM99P
, 2H125AN08P
, 2H125AN37P
, 2H125AN38P
, 2H125AN39P
, 2H125AN42P
, 2H125AN45P
, 2H125AN57P
, 2H125AN62P
, 2H125AN63P
, 2H125AN64P
, 2H125AN65P
, 2H125AN86P
, 2H125AN88P
, 2H125BA01P
, 2H125BA26P
, 2H125BA32P
, 2H125BA33P
, 2H125CA12
, 2H125CB09
, 2H125CC01
, 2H125CC15
, 2H125FA03
, 2H125FA05
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
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