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J-GLOBAL ID:201203094520711940
非線形ラマン分光装置、顕微分光装置及び顕微分光イメージング装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
渡邊 薫
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2011108324
Publication number (International publication number):2012237714
Application date: May. 13, 2011
Publication date: Dec. 06, 2012
Summary:
【課題】高効率でかつ安定性に優れた小型の非線形ラマン分光装置、顕微分光装置及び顕微分光イメージング装置を提供する。【解決手段】非線形ラマン分光装置の光照射部に、同一波長又は相互に異なる波長の短パルスレーザ光を発生する2つの光源を設けると共に、この光源の一方から出射される短パルスレーザ光を時間遅延させるパルス制御部を設ける。そして、この非線形ラマン分光装置を組み込んで、顕微分光装置や顕微イメージング装置を構成する。【選択図】図15
Claim (excerpt):
短パルスレーザ光を発生する2つの光源と、
該光源の一方から出射される短パルスレーザ光を時間遅延させるパルス制御部と、
を有する非線形ラマン分光装置。
IPC (2):
FI (2):
F-Term (23):
2G043AA01
, 2G043BA14
, 2G043BA16
, 2G043BA17
, 2G043CA05
, 2G043EA03
, 2G043EA04
, 2G043FA02
, 2G043GA01
, 2G043GB01
, 2G043HA01
, 2G043HA02
, 2G043HA05
, 2G043HA09
, 2G043KA08
, 2G043KA09
, 2G043LA03
, 2H052AA00
, 2H052AC04
, 2H052AC05
, 2H052AC26
, 2H052AC34
, 2H052AF07
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
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非線形分光計測システム用の光源装置、非線形分光計測システム及び方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2008-066832
Applicant:国立大学法人東京大学
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赤方偏移したストローク線を用いる、試料の蛍光顕微鏡測定法
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2010-527448
Applicant:マックス-プランク-ゲゼルシヤフト・ツーア・フェルデルング・デア・ヴィッセンシャフテン・アインゲトラーゲナー・フェライン
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非線形ラマン散乱光測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2008-160195
Applicant:富士フイルム株式会社
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