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J-GLOBAL ID:201303011613556559
走査型プローブ顕微鏡およびカンチレバー駆動装置
Inventor:
,
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (3):
大野 聖二
, 森田 耕司
, 田中 玲子
Gazette classification:特許公報
Application number (International application number):2007518942
Patent number:5164147
Application date: May. 26, 2006
Claim (excerpt):
【請求項1】 カンチレバーと、
前記カンチレバーの変位を検出するセンサと、
前記カンチレバーに光を照射して熱膨張変形を生じさせる光照射部と、
前記光照射部の光の強度を制御して前記カンチレバーの変位を変化させる光照射制御部と、
を備え、前記光照射制御部は、前記センサにより検出された変位に基づいて前記光照射部の光の強度を制御することによって前記カンチレバーのフィードバック制御を行い、
前記光照射制御部は、前記光照射部からの光の照射に対する前記カンチレバーの熱応答の遅れを補償する熱応答補償部を備えており、
前記熱応答補償部は、前記カンチレバーの熱伝達関数の逆伝達関数と等価な構成を有することを特徴とする走査型プローブ顕微鏡。
IPC (2):
G01Q 20/02 ( 201 0.01)
, G01Q 60/32 ( 201 0.01)
FI (2):
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (6)
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表面電位読み取り装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-310853
Applicant:大日本印刷株式会社
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新規なカンチレバー構造
Gazette classification:公表公報
Application number:特願平9-532383
Applicant:インターナシヨナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーシヨン
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マイクロプローブおよび試料表面測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-040032
Applicant:セイコーインスツルメンツ株式会社
-
原子間力顕微鏡用能動型探針及びその使用方法
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2000-608203
Applicant:ナノデバイシィズインコーポレイテッド
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走査型プローブ顕微鏡およびその操作法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2003-117395
Applicant:セイコーインスツルメンツ株式会社
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特許第6330824号
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Cited by examiner (6)
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原子間力顕微鏡用能動型探針及びその使用方法
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Applicant:ナノデバイシィズインコーポレイテッド
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Application number:特願2000-040032
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新規なカンチレバー構造
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Application number:特願平9-532383
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特許第6330824号
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走査型プローブ顕微鏡およびその操作法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2003-117395
Applicant:セイコーインスツルメンツ株式会社
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Article cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
Cited by examiner (1)
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