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J-GLOBAL ID:201303027935200273
強誘電体薄膜の製造方法
Inventor:
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,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
須田 正義
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2012073402
Publication number (International publication number):2012256850
Application date: Mar. 28, 2012
Publication date: Dec. 27, 2012
Summary:
【課題】(100)面に優先的に結晶配向が制御された強誘電体薄膜をシード層やバッファ層を設けることなく、簡便に得ることが可能な、強誘電体薄膜の製造方法を提供する。【解決手段】結晶面が(111)軸方向に配向した下部電極を有する基板の下部電極上に、強誘電体薄膜形成用組成物を塗布し、加熱して結晶化させることにより下部電極上に強誘電体薄膜を製造する方法の改良であり、強誘電体薄膜が(100)面に優先的に結晶配向が制御された配向制御層により構成され、配向制御層を結晶化後の層厚を35nm〜150nmの範囲内にすることにより形成することを特徴とする。【選択図】図1
Claim (excerpt):
結晶面が(111)軸方向に配向した下部電極を有する基板の前記下部電極上に、強誘電体薄膜形成用組成物を塗布し、仮焼した後、焼成して結晶化させることにより前記下部電極上に強誘電体薄膜を製造する方法において、
前記強誘電体薄膜形成用組成物を前記下部電極上に塗布、仮焼、焼成して配向制御層を形成し、
前記強誘電体薄膜形成用組成物の塗布量を前記配向制御層の結晶化後の層厚が35nm〜150nmの範囲内になるように設定して前記配向制御層の優先的な結晶配向を(100)面にすることを特徴とする強誘電体薄膜の製造方法。
IPC (6):
H01L 21/316
, H01L 21/824
, H01L 27/105
, H01G 4/33
, H01G 4/30
, H01G 4/12
FI (5):
H01L21/316 G
, H01L27/10 444C
, H01G4/06 102
, H01G4/30 301E
, H01G4/12 358
F-Term (24):
5E001AB03
, 5E001AH01
, 5E001AH09
, 5E001AJ02
, 5E082AB01
, 5E082AB03
, 5E082FF05
, 5E082FG03
, 5E082FG46
, 5E082FG54
, 5F058BB05
, 5F058BC03
, 5F058BD01
, 5F058BD02
, 5F058BD05
, 5F058BF46
, 5F058BH03
, 5F058BJ10
, 5F083FR00
, 5F083GA27
, 5F083JA15
, 5F083JA38
, 5F083PR23
, 5F083PR33
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
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強誘電体膜
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2003-085419
Applicant:独立行政法人産業技術総合研究所
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強誘電体薄膜の結晶配向性制御方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-057242
Applicant:三菱マテリアル株式会社
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ゾル-ゲル法による強誘電体膜の形成方法及びキャパシタの製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2007-079216
Applicant:日本テキサス・インスツルメンツ株式会社
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