非破壊検査方法及び装置

Inventor： , , , , , ,
Applicant, Patent owner： ,
Agent (3)：平木祐輔 , 関谷三男 , 渡辺敏章
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2007170877
Publication number (International publication number)：2009008560
Patent number：5030056
Application date： Jun. 28, 2007
Publication date： Jan. 15, 2009
Claim (excerpt)：

【請求項1】 γ線ビームを横切るように被検査体を並進移動させ、前記γ線ビームに対する被検査体の各移動位置において、被検査体に照射される照射γ線ビーム強度と、被検査体を透過した透過γ線強度と、被検査体内部で発生した陽電子の消滅γ線に関するデータを照射γ線ビームの経路と一対一に対応付けて計測する工程と、前記γ線ビームに対して被検査体を所定角度回転させる回転工程とを反復してデータを取得する工程と、前記照射γ線ビーム強度と透過γ線強度に関するデータをもとに被検査体の第1の断層像を形成する工程と、前記消滅γ線の強度に関するデータをもとに被検査体の第2の断層像を形成する工程とを有することを特徴とする被検査体の非破壊検査方法。

IPC (2)：

G01N 23/22 ( 200 6.01) , G01N 23/04 ( 200 6.01)

FI (2)：

G01N 23/22 , G01N 23/04

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (6)

光子誘起による陽電子消滅γ線分光及び短寿命原子核準位の測定法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2002-313878 Applicant：日本原子力研究所, 独立行政法人産業技術総合研究所
イオン注入ドーズ量分布測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-019971 Applicant：株式会社島津製作所
特開平2-222886

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