陽電子消滅を利用した非破壊検査法

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004371916
Publication number (International publication number)：2006177798
Application date： Dec. 22, 2004
Publication date： Jul. 06, 2006
Summary：

【課題】本発明は、大掛かりな検出装置を必要とせず、表面のみならず材料内部の非破壊検査で、材料内部を簡便に検査可能とすることを目的とする。【解決手段】ミュー粒子を材料内部で停止させ、材料内部でミュー粒子崩壊によって生じた陽電子の寿命を検出することにより材料内部の欠陥を検査する非破壊検査方法である。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

ミュー粒子を材料内部で停止させ、材料内部でミュー粒子崩壊によって生じた陽電子の寿命を検出することにより材料内部の欠陥を検査する非破壊検査方法。

IPC (1)：

G01N 23/22

FI (1)：

G01N23/22

F-Term (6)：

2G001AA04 , 2G001CA02 , 2G001CA03 , 2G001GA03 , 2G001KA03 , 2G001LA02

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (3)

陽電子寿命測定方法及び装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2002-011921 Applicant：住友重機械工業株式会社, 斎藤晴雄, 兵頭俊夫
金属材料の疲労損傷診断方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2002-069108 Applicant：住友金属テクノロジー株式会社, 住友金属工業株式会社
光子誘起による陽電子消滅γ線分光及び短寿命原子核準位の測定法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2002-313878 Applicant：日本原子力研究所, 独立行政法人産業技術総合研究所

Cited by examiner (8)

欠陥検査装置および陽電子線応用装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2003-135265 Applicant：株式会社日立製作所, 株式会社日立ハイテクノロジーズ
陽電子を用いた材料評価装置及び評価方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平11-248524 Applicant：大阪大学長
陽電子消滅γ線測定方法および装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2001-239200 Applicant：株式会社東芝

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