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J-GLOBAL ID：201303070201363833

周波数解析装置

Inventor：
山田 達司

About 山田 達司


Applicant, Patent owner：
独立行政法人産業技術総合研究所

About 独立行政法人産業技術総合研究所


Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2011190429
Publication number (International publication number)：2013053861
Application date： Sep. 01, 2011
Publication date： Mar. 21, 2013
Summary：
【課題】本発明は、入力信号の周波数が一定ではない場合や、非同期サンプリングによって得られるサンプリングデータから周波数解析を行う場合であっても、高精度に計測することが可能な周波数解析装置に関する。【解決手段】入力信号を所定周波数と同期する間隔で所定周期分、サンプリングするサンプリング部と、入力信号の周波数を決定する周波数決定部と、周波数決定部で決定された周波数に基づいてサンプリング部により得られたサンプリングデータのサンプル数を補正するサンプル数補正部と、サンプル数が補正されたサンプリングデータと周波数決定部で決定された周波数に基づいて、台形近似補正を行って離散フーリエ変換を行う離散フーリエ変換演算部と、を有する周波数解析装置である。【選択図】図2
Claim (excerpt)：
入力信号を所定周波数と同期する間隔で所定周期分、サンプリングするサンプリング部と、 入力信号の周波数を決定する周波数決定部と、 前記周波数決定部で決定された周波数に基づいて前記サンプリング部により得られたサンプリングデータのサンプル数を補正するサンプル数補正部と、 サンプル数が補正されたサンプリングデータと前記周波数決定部で決定された周波数に基づいて、台形近似補正を行って離散フーリエ変換演算を行う離散フーリエ変換演算部と、 を有する周波数解析装置。
IPC (2)：
G01R 23/16 ,  G06F 17/14
FI (2)：
G01R23/16 D ,  G06F17/14 A
F-Term (2)：
5B056BB12 ,  5B056BB53
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (9)
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Cited by examiner (9)
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