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J-GLOBAL ID：201403028403230291

官能基の測定方法

Inventor： 鷹林 将 ,  坂上 弘之 ,  高萩 隆行 ,  岡本 圭司 ,  中谷 達行
Applicant, Patent owner： 国立大学法人広島大学 ,  トーヨーエイテック株式会社
Agent (10)： 特許業務法人前田特許事務所 ,  前田 弘 ,  竹内 宏 ,  嶋田 高久 ,  竹内 祐二 ,  二宮 克也 ,  原田 智雄 ,  井関 勝守 ,  関 啓 ,  杉浦 靖也
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2009221097
Publication number (International publication number)：2011069725
Patent number：5531310
Application date： Sep. 25, 2009
Publication date： Apr. 07, 2011
Claim (excerpt)：

【請求項1】 固体材料の表面に存在する複数の官能基の量を測定する方法であって、 前記固体材料からなる複数の評価用試料を準備する工程(a)と、 前記各官能基に対する反応率をあらかじめ測定した複数の標識試薬を準備する工程(b)と、 前記評価用試料と前記標識試薬とをそれぞれ反応させる工程(c)と、 前記工程(c)よりも後に、前記評価用試料のそれぞれについてその表面に導入された前記標識試薬の導入量をX線光電子分光測定法により測定する工程(d)と、 前記固体材料の表面に存在する前記各官能基の量を、以下の式に基づいて算出する工程(e)とを備えていることを特徴とする官能基の測定方法。 G=R-1Q 但し、 であり、Fn(nは2以上の整数)は前記複数の官能基のうちのn番目の官能基であり、Lm(mは2以上の整数且つm=n)は前記複数の標識試薬のうちのm番目の標識試薬であり、GFnは前記固体材料の表面に存在する前記Fnの量であり、QLmは前記固体材料の表面に導入された前記Lmの導入量であり、RLm/Fnは前記LmとFnとの反応率である。

IPC (2)：

G01N 23/227 ( 200 6.01) ,  G01N 1/30 ( 200 6.01)

FI (2)：

G01N 23/227 ,  G01N 1/30

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (6)

• 表面官能基検出方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-291504   Applicant：花王株式会社
• 複合半透膜およびその製造方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-071944   Applicant：東レ株式会社
• 表面官能基の検出方法及び検出装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2002-216954   Applicant：トヨタ自動車株式会社
• 高分子材料の酸性官能基定量方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2003-063451   Applicant：旭化成株式会社
• 成形品表面の官能基分析方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2005-340230   Applicant：住友ベークライト株式会社
• ダイヤモンド様薄膜の修飾方法及び超親水性材料、医療用材料、医療用器具とその製造方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2007-070884   Applicant：トーヨーエイテック株式会社