Pat
J-GLOBAL ID:201403089859378290
磁場測定装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (3):
上柳 雅誉
, 宮坂 一彦
, 渡辺 和昭
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2013266648
Publication number (International publication number):2014055987
Application date: Dec. 25, 2013
Publication date: Mar. 27, 2014
Summary:
【課題】光ポンピング法を用いた磁場勾配の測定の精度を向上させる技術を提供すること。【解決手段】直線偏光のプローブ光を照射するプローブ光照射手段と、プローブ光が通過する2の領域に存在し、円偏光のポンプ光が照射される方向に応じて磁化する磁性媒体であって、外部から印加される磁場のうちプローブ光が通過する方向に対して直交する第1方向の成分の強度に応じて、プローブ光の偏光面を回転させる磁性媒体と、2の領域の各々における磁性媒体に対して、プローブ光を複数回通過させるように光路を制御する光路制御手段と、2の領域の各々における磁性媒体が第1の方向以外のそれぞれ反対の方向に磁化するように円偏光のポンプ光を照射するポンプ光照射手段と、2の領域の一方における磁性媒体を複数回通過することによる偏光面の回転量と、他方における偏光面の回転量との差を検出する検出手段とを具備する。【選択図】図2
Claim (excerpt):
直線偏光のプローブ光を照射するプローブ光照射手段と、
前記プローブ光照射手段から照射されたプローブ光が通過する2の領域に存在し、円偏光のポンプ光が照射された方向に応じて磁化する磁性媒体であって、前記2の領域の各々に外部から印加される磁場のうち当該プローブ光が通過する方向に対して直交する第1方向の成分の強度に応じて、当該通過するプローブ光の偏光面をファラデー効果により回転させる磁性媒体と、
前記2の領域の各々における磁性媒体に対して、前記プローブ光をそれぞれ同じ複数回通過させるように当該プローブ光の光路を制御する光路制御手段と、
前記2の領域の各々における磁性媒体が前記第1の方向以外の方向に沿って磁化するように、当該磁性媒体に対して円偏光のポンプ光を照射するポンプ光照射手段と、
前記2の領域の一方における磁性媒体を前記複数回通過することによる前記プローブ光の偏光面の回転量と、他方における磁性媒体を前記複数回通過することによる前記プローブ光の偏光面の回転量との差を検出する検出手段と
を具備することを特徴とする磁場測定装置。
IPC (2):
FI (2):
F-Term (8):
2G017AA01
, 2G017AA08
, 2G017AB01
, 2G017AB02
, 2G017AD12
, 2G017AD14
, 2G017AD15
, 2G017BA15
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (8)
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光ポンピング磁力計
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2008-081280
Applicant:キヤノン株式会社
-
原子磁気センサ、及び磁気センシング方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2007-340474
Applicant:キヤノン株式会社
-
反射特性測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2003-271854
Applicant:株式会社クリプトン
-
光パルス試験装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-282139
Applicant:アンリツ株式会社
-
特開昭61-073932
-
磁界プローブ装置及び磁界の測定方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2006-005483
Applicant:株式会社日立製作所
-
スキュー角測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2006-175212
Applicant:電子磁気工業株式会社
-
磁気特性解析システム及び磁気特性解析方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2005-073336
Applicant:新日本製鐵株式会社
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Cited by examiner (8)
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光ポンピング磁力計
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Application number:特願2008-081280
Applicant:キヤノン株式会社
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Application number:特願2007-340474
Applicant:キヤノン株式会社
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反射特性測定装置
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Application number:特願2003-271854
Applicant:株式会社クリプトン
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光パルス試験装置
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Application number:特願2001-282139
Applicant:アンリツ株式会社
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特開昭61-073932
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磁界プローブ装置及び磁界の測定方法
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Application number:特願2006-005483
Applicant:株式会社日立製作所
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スキュー角測定装置
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Application number:特願2006-175212
Applicant:電子磁気工業株式会社
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磁気特性解析システム及び磁気特性解析方法
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Application number:特願2005-073336
Applicant:新日本製鐵株式会社
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