表面増強ラマン散乱測定用基板、及びその製造方法

Inventor： , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (2)：岸本達人 , 山下昭彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2013186473
Publication number (International publication number)：2015052562
Application date： Sep. 09, 2013
Publication date： Mar. 19, 2015
Summary：

【課題】測定感度が高く、簡易な方法で製造可能な表面増強ラマン散乱測定用基板、及び当該表面増強ラマン散乱測定用基板の製造方法を提供する。【解決手段】複数の微小突起が密接して配置され、隣接する前記微小突起間の距離の平均が1000nm以下である微小突起構造体を有する微細凹凸層と、平均粒径が前記微小突起間の距離の平均よりも小さい金属ナノ粒子とを有し、前記金属ナノ粒子が前記微小突起構造体の表面に担持されている、表面増強ラマン散乱測定用基板。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

複数の微小突起が密接して配置され、隣接する前記微小突起間の距離の平均が1000nm以下である微小突起構造体を有する微細凹凸層と、平均粒径が前記微小突起間の距離の平均よりも小さい金属ナノ粒子とを有し、前記金属ナノ粒子が前記微小突起構造体の表面に担持されている、表面増強ラマン散乱測定用基板。

IPC (1)：

G01N 21/65

FI (1)：

G01N21/65

F-Term (6)：

2G043AA01 , 2G043EA03 , 2G043FA02 , 2G043KA05 , 2G043NA01 , 2G043NA02

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (7)

光デバイス及び検出装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2011-139526 Applicant：セイコーエプソン株式会社
表面増強ラマン散乱(SERS)用基板
Gazette classification：公表公報 Application number：特願2011-536300 Applicant：ヒューレット-パッカードデベロップメントカンパニーエル.ピー.
物質を検出するためのデバイス及びそのようなデバイスを作る方法
Gazette classification：公表公報 Application number：特願2014-530647 Applicant：ヒューレット-パッカードデベロップメントカンパニーエル.ピー.

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