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J-GLOBAL ID：201603017525128491
マススペクトル解析システム,方法およびプログラム
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
東京UIT国際特許業務法人
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2015078992
Publication number (International publication number)：2016200435
Application date： Apr. 08, 2015
Publication date： Dec. 01, 2016
Summary：
【課題】質量分析装置から出力されるスキャン生データに基づいて,適切な代表マススペクトルを自動的に作成するマススペクトル解析システムを提供する。【解決手段】質量電荷比,イオン強度および測定時間の3次元測定データを入力し,入力測定データの指定された質量電荷比に関し,イオン強度の総和が最大となる時間帯を算出し,検出された最良時間帯の入力測定データのイオン強度に基づいて代表マススペクトルを作成する。検出された最良時間帯および作成された代表マススペクトルは表示装置に表示される。また,作成された代表マススペクトルにラベル情報(サンプルに関する情報,分析条件等)を付加して記憶する。【選択図】図10
Claim (excerpt)：
質量電荷比,イオン強度および測定時間の3次元測定データを入力する測定データ入力手段,
入力測定データの指定された質量電荷比に関し,イオン強度の総和が最大となる時間帯を算出する最良時間帯検出手段,ならびに
検出された最良時間帯の入力測定データのイオン強度に基づいて代表マススペクトルを作成する代表マススペクトル作成手段,
を備えるマススペクトル解析システム。
IPC (1)：
FI (1)：
F-Term (5)：
2G041CA01
, 2G041GA01
, 2G041MA02
, 2G041MA04
, 2G041MA06
Cited by examiner (8)
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Article cited by the Patent：
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