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J-GLOBAL ID:200903082494900329
クロマトグラフ質量分析用データ処理装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
小林 良平
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2004027476
Publication number (International publication number):2005221276
Application date: Feb. 04, 2004
Publication date: Aug. 18, 2005
Summary:
【課題】 マススペクトル中のバックグラウンドやノイズによるピークを除去して解析処理を行い易い良好なマススペクトルを得る。 【解決手段】 目的物質のマススペクトルに現れる全てのピークの質量数についてマスクロマトグラムを作成し(S1、S2)、目的物質の保持時間に対し所定の時間幅を設定してピーク検出を実行する(S3)。見つかった各ピークのS/N比を計算して判定閾値と比較し、判定閾値未満のピークはバックグラウンド/ノイズであると判断する(S4、S5)。こうしてシグナルであると判定されたピークの質量数のみを選定しマススペクトルを再び作成する(S6)。このようにしてバックグラウンドやノイズに由来するピークを的確に除去するとともに、目的物質由来のピークを誤って除去してしまうことも軽減できる。【選択図】 図2
Claim (excerpt):
測定対象物をクロマトグラフ質量分析して収集されたデータを処理するクロマトグラフ質量分析用データ処理装置において、
a)所定の経過時間におけるマススペクトルを作成するマススペクトル作成手段と、
b)該マススペクトルに出現している各ピークについて、それぞれの質量数のマスクロマトグラムを取得するマスクロマトグラム取得手段と、
c)各マスクロマトグラムにおいて前記所定の経過時間近傍の範囲でクロマトグラムピークを検出するピーク検出手段と、
d)検出された各クロマトグラムピークのS/N比を計算するS/N比算出手段と、
e)算出されたS/N比を所定の閾値と比較することにより有意なクロマトグラムピークであるか否かを判断するピーク判別手段と、
f)有意と判断されたクロマトグラムピークを持つ質量数を選択して、該質量数のピークのみを含むマススペクトルを作成するマススペクトル再構成手段と、
を備えることを特徴とするクロマトグラフ質量分析用データ処理装置。
IPC (3):
G01N30/86
, G01N27/62
, G01N30/72
FI (7):
G01N30/86 P
, G01N30/86 L
, G01N27/62 C
, G01N27/62 D
, G01N27/62 X
, G01N30/72 A
, G01N30/72 C
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
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クロマトグラフ質量分析計
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-001745
Applicant:株式会社島津製作所
Cited by examiner (11)
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クロマトグラフのデータ処理装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-233241
Applicant:株式会社島津製作所
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質量分析方法及び質量分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-126715
Applicant:株式会社日立製作所
-
ピアノのアクション
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-185499
Applicant:株式会社河合楽器製作所
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SIM法を用いたクロマトグラフ質量分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-194924
Applicant:株式会社島津製作所
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SIM法を用いたクロマトグラフ質量分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-292300
Applicant:株式会社島津製作所
-
SIM法を用いたクロマトグラフ質量分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-292301
Applicant:株式会社島津製作所
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クロマトグラフ質量分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-021278
Applicant:株式会社島津製作所
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クロマトグラフ装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-258393
Applicant:株式会社日立製作所
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クロマトグラフ質量分析計
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-001745
Applicant:株式会社島津製作所
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クロマトグラフ質量分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-112274
Applicant:株式会社島津製作所
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質量分析方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-199856
Applicant:日本電子株式会社
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