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J-GLOBAL ID：201702212375751628   Reference number：17A0568350

量子ビームを用いたガラス・非晶質材料のナノスケール構造解析 放射光を利用した非晶質酸化ニオブ薄膜の構造解析

Author (4)： SAJIKI GO (Kagawa NCT) ,  OKANO HIROSHI (Kagawa NCT) ,  BENINO YASUHIKO (Okayama Univ.) ,  NAMBA TOKURO (Okayama Univ.)
Material： セラミックス  (Bulletin of the Ceramic Society of Japan)
Volume： 52  Issue： 5  Page： 362-364  Publication year： May. 01, 2017 
JST Material Number： S0291A  ISSN： 0009-031X  CODEN： SERAA7  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *niobium oxide ,  amorphous state ,  *structure analysis ,  synchrotron radiation facility ,  synchrotron radiation ,  magnetron sputtering ,  sputtered deposition ,  *evaporated film ,  locality ,  polymorphism ,  chemical composition ,  density ,  X-Ray Absorption Spectroscopy ,  high energy region ,  X-Ray Diffraction ,  Monte Carlo Method ,  simulation ,  model ,  numerical analysis ,  Models, Structural
Semi thesaurus term： reverse Monte Carlo method

JST classification (1)： Structure of other amorphous materials  (BK04040Z)

Reference (7)：

• G. Sajiki, Y. Benino, T. Nanba and H. Okano, Mater. Sci. Appl., 6, 292-309 (2015).
• C. Oki, G. Sajiki, S. Sakida, Y. Benino and T. Nanba, J. Ceram. Soc. Japan, 124, 1221-1225 (2016).
• 桜井健次,′′X線反射率法入門′′,講談社サイエンティフィク (2009).
• A. Nelson, I. Atol. Crystallogr., 39, 237-276 (2006) .
• 太田俊明編,′′X線吸収分光法-XAFSとその応用′′,アイピーシー (2002).

Terms in the title (9)： 量子ビーム ,  ガラス ,  非晶質材料 ,  ナノスケール ,  構造解析 ,  放射光 ,  非晶質 ,  酸化ニオブ ,  薄膜