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J-GLOBAL ID：201703002520770489

画像処理装置、画像処理方法

Inventor： 廣田 祐一郎 ,  降籏 久義 ,  中里 祐介
Applicant, Patent owner： キヤノン株式会社
Agent (6)： 大塚 康徳 ,  高柳 司郎 ,  大塚 康弘 ,  木村 秀二 ,  下山 治 ,  永川 行光
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2012137268
Publication number (International publication number)：2014002033
Patent number：6092530
Application date： Jun. 18, 2012
Publication date： Jan. 09, 2014
Claim (excerpt)：

【請求項1】 パターンが投影された対象物体を含んだ撮像画像を取得する手段と、 前記撮像画像からパターンが投影された領域を検出する検出手段と、 前記検出手段によって検出された前記パターンが投影された領域に基づいて距離画像を生成する生成手段と、 前記検出手段によって検出された前記パターンが投影された領域を示すマスク画像を生成するマスク画像生成手段と、 前記対象物体の三次元モデルの線上の複数の特徴を前記撮像画像上に投影し、該投影された複数の特徴に対応する前記対象物体の複数の画像特徴を、前記マスク画像を参照して特定する探索手段と、 前記対象物体の三次元モデルの面上の複数の特徴と前記距離画像によって示される距離点とを対応付け、前記探索手段によって特定された複数の画像特徴と前記投影された複数の特徴とを対応づける対応付け手段と、 前記対応付け手段によって対応づけられた結果に基づいて、前記対象物体の位置姿勢を導出する導出手段と を備えることを特徴とする画像処理装置。

IPC (2)：

G01B 11/00 ( 200 6.01) ,  G01B 11/26 ( 200 6.01)

FI (2)：

G01B 11/00 H ,  G01B 11/26 H

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (6)

• 3次元計測装置、その計測方法及びプログラム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2010-137680   Applicant：キヤノン株式会社
• 画像処理装置および方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2006-219846   Applicant：キヤノン株式会社
• 測定装置及び測定方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2010-244369   Applicant：キヤノン株式会社
• 位置姿勢計測装置、位置姿勢計測方法、およびプログラム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2010-185576   Applicant：キヤノン株式会社
• 認識対象物体の位置姿勢認識装置および位置姿勢認識方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-324121   Applicant：東京電力株式会社, 株式会社東芝
• 物体検知システムおよびその方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-217221   Applicant：日本無線株式会社