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J-GLOBAL ID：201703005379150390

物体認識装置

Inventor：
酒井 映

About 酒井 映

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三澤 秀明

About 三澤 秀明

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村瀬 洋

About 村瀬 洋

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出口 大輔

About 出口 大輔


Applicant, Patent owner：
株式会社デンソー

About 株式会社デンソー

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国立大学法人名古屋大学

About 国立大学法人名古屋大学


Agent (1)： 名古屋国際特許業務法人
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2015088455
Publication number (International publication number)：2016206026
Application date： Apr. 23, 2015
Publication date： Dec. 08, 2016
Summary：
【課題】自車両の周囲に位置する物体を認識する物体認識装置において、マルチエコーを用いることなく解像度を向上できるようにする。【解決手段】物体認識システムにおいては、物体を検出する検出領域を予め水平方向および鉛直方向に格子状に区分した照射領域毎にレーザ光を照射し、それぞれの照射領域にてレーザ光の反射光を受光することで得られるそれぞれの距離と反射強度を含む測距点群を取得し(S110)、測距点群をクラスタリングし(S120)、クラスタリングした点群(クラスタ点群)の位置をクラスタ毎に設定された位置に補正した補正クラスタ点群を生成する(S150)。それぞれのクラスタについて得られた現在時刻の補正クラスタ点群を、過去において各クラスタについて得られた過去時刻の統合クラスタ点群に統合した現在時刻の統合クラスタ点群を得て(S150)、この統合クラスタ点群を用いて識別を行う(S170)。【選択図】図3
Claim (excerpt)：
自車両に搭載され、自車両の周囲に位置する物体を認識する物体認識装置(2)であって、 物体を検出する検出領域を予め水平方向および鉛直方向に格子状に区分した照射領域毎にレーザ光を照射し、それぞれの照射領域にて前記レーザ光の反射光を受光することで得られるそれぞれの物体との距離情報を測距点として、複数の測距点の集合を表す測距点群を取得する測距点群取得手段(S110)と、 前記測距点群をクラスタリングし、クラスタ点群を得るクラスタリング手段(S120)と、 前記クラスタ点群の位置をクラスタ毎に設定された位置に補正した補正クラスタ点群を生成する点群補正手段(S210〜S220、S360〜S380、S410〜S435、S460〜S470、S510〜S520、S560〜S580)と、 それぞれのクラスタについて得られた現在時刻の補正クラスタ点群を、過去において各クラスタについて得られた過去時刻の統合クラスタ点群に統合した現在時刻の統合クラスタ点群を得る統合手段(S230、S390、S440、S480、S530、S590)と、 を備えたことを特徴とする物体認識装置。
IPC (3)：
G01S 17/93 ,  G08G 1/16 ,  G01S 17/89
FI (3)：
G01S17/93 ,  G08G1/16 C ,  G01S17/89
F-Term (25)：
5H181AA01 ,  5H181CC03 ,  5H181CC14 ,  5H181LL01 ,  5H181LL04 ,  5H181LL06 ,  5H181LL09 ,  5J084AA04 ,  5J084AA05 ,  5J084AA07 ,  5J084AA10 ,  5J084AB01 ,  5J084AB07 ,  5J084AC02 ,  5J084AD01 ,  5J084BA03 ,  5J084BA50 ,  5J084BB21 ,  5J084CA23 ,  5J084CA31 ,  5J084CA32 ,  5J084EA04 ,  5J084EA22 ,  5J084EA31 ,  5J084FA01
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (6)
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Cited by examiner (6)
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