粒子特性評価方法及び装置

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：名古屋国際特許業務法人
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2017512715
Publication number (International publication number)：2017530347
Application date： Sep. 07, 2015
Publication date： Oct. 12, 2017
Summary：

試料(150)を保持するための試料セル(110)と、試料セル(110)内の試料(150)を照射するための光ビーム(106)を発生し、それにより光ビーム(106)の試料(150)との相互作用により散乱光を発生する光源(302)と、試料(150)内の光ビーム(106)を集束させるための焦点レンズ(130)と、試料(150)内の集束した光ビーム(106)と交差する検出光路(108)に沿った後方散乱光を検出するための検出器(306)と、を備える粒子特性評価装置(300)が開示される。光ビーム(106)と試料内の検出光路(108)との交点は検出領域(120)を形成する。前記装置は検出領域(120)のボリュームを変えるための光学配置を備える。

Claim (excerpt)：

試料を保持するための試料セル、及び前記試料セル内の前記試料を照射するための光ビームを発生し、それにより前記光ビームの前記試料との相互作用により散乱光を発生する光源と、前記試料内の前記光ビームを集束させるための焦点レンズと、前記試料内の集束した光ビームと交差する検出光路に沿った前記散乱光を検出するための検出器であって、前記集束した光ビームと前記試料内の前記検出光路の前記交点とは検出領域を形成する、検出器と、を備える粒子特性評価装置であって、前記試料内の検出領域の位置を変えるように前記焦点レンズの移動により前記光ビームの焦点面の場所と前記試料内の検出光路とを変えるように、前記装置は前記検出領域のボリュームを変えるための光学配置を備え且つ前記焦点レンズは移動可能である、粒子特性評価装置。

IPC (2)：

G01N 15/02 , G01N 15/06

FI (2)：

G01N15/02 A , G01N15/06 C

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (15)

分析システム
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2005-243288 Applicant：シスメックス株式会社
特開昭61-167838
光ディスク装置及びその制御方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2008-160345 Applicant：株式会社日立製作所, 株式会社日立エルジーデータストレージ

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Cited by examiner (17)

分析システム
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2005-243288 Applicant：シスメックス株式会社
特開昭61-167838
レーザシステム
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-010750 Applicant：ルモニクスリミテッド

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