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J-GLOBAL ID:202103014395051549
昇温脱離分析装置及び昇温脱離分析方法
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
特許業務法人はるか国際特許事務所
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2019135041
Publication number (International publication number):2021018191
Application date: Jul. 23, 2019
Publication date: Feb. 15, 2021
Summary:
【課題】液体と混合された固体試料を簡便に分析できる昇温脱離分析装置及び昇温脱離分析方法を提供する。【解決手段】昇温脱離分析装置は、減圧可能な内部空間を有する試料チャンバー、前記試料チャンバー内の固体試料を加熱するヒーター、及び、前記試料チャンバー内で加熱された前記固体試料から発生した脱離ガスを検出する検出器、を含み、前記試料チャンバーは、前記内部空間内に、前記固体試料と液体との混合物を収容するための試料容器、及び、前記試料容器と伝熱可能に接続された接続部分と、前記試料容器内の前記混合物を凍結するために冷却される被冷却部分とを有する伝熱部材、を含む。【選択図】図1
Claim (excerpt):
減圧可能な内部空間を有する試料チャンバー、
前記試料チャンバー内の固体試料を加熱するヒーター、及び、
前記試料チャンバー内で加熱された前記固体試料から発生した脱離ガスを検出する検出器、
を含み、
前記試料チャンバーは、前記内部空間内に、
前記固体試料と液体との混合物を収容するための試料容器、及び、
前記試料容器と伝熱可能に接続された接続部分と、前記試料容器内の前記混合物を凍結するために冷却される被冷却部分とを有する伝熱部材、
を含む、
昇温脱離分析装置。
IPC (1):
FI (1):
F-Term (11):
2G040AA02
, 2G040AB11
, 2G040BA02
, 2G040BA21
, 2G040CA02
, 2G040DA05
, 2G040EA04
, 2G040EB02
, 2G040FA04
, 2G040GC01
, 2G040ZA01
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (9)
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ガス分析装置およびガス分析方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2015-227765
Applicant:国立研究開発法人物質・材料研究機構
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昇温脱離ガス分析装置及び昇温脱離ガス分析方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-017052
Applicant:京セラ株式会社
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昇温脱離分析装置とその方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2003-315993
Applicant:株式会社リガク
-
昇温脱離分析方法および装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2012-107329
Applicant:日本電信電話株式会社
-
脱離ガス分析装置及びその分析方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-187497
Applicant:東芝マイクロエレクトロニクス株式会社, 株式会社東芝
-
試料分析方法、試料搬入部材、試料搬入方法および昇温脱離分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2009-162087
Applicant:電子科学株式会社
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特開昭59-032856
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特開昭64-059047
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特許第6324894号
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