Pat
J-GLOBAL ID:202303000053175029

応力発光データ処理装置、応力発光データ処理方法、応力発光測定装置および応力発光試験システム

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (4): 中川 雅博 ,  福島 祥人 ,  坂根 剛 ,  澤村 英幸
Gazette classification:特許公報
Application number (International application number):2019094544
Publication number (International publication number):2020190431
Patent number:7282307
Application date: May. 20, 2019
Publication date: Nov. 26, 2020
Claim (excerpt):
【請求項1】応力発光物質の発光強度の時間変化を示す発光データを取得するデータ取得部と、 前記取得された発光データのうち、前記応力発光物質に荷重が印加されていない時点に対応する部分を無荷重部分として決定する決定部と、 前記決定された無荷重部分に基づいて、前記取得された発光データにおいて荷重印加に起因しない成分をバックグラウンド成分として特定するバックグラウンド特定部と、 前記取得された発光データから前記特定されたバックグラウンド成分を除去することにより荷重印加に起因する成分を応力発光成分として生成するバックグラウンド除去部とを備え、 前記決定部は、使用者による指定に基づいて前記無荷重部分を決定する、応力発光データ処理装置。
IPC (4):
G01N 21/70 ( 200 6.01) ,  G01L 1/00 ( 200 6.01) ,  G01L 1/24 ( 200 6.01) ,  G01N 3/06 ( 200 6.01)
FI (5):
G01N 21/70 ,  G01L 1/00 B ,  G01L 1/00 E ,  G01L 1/24 Z ,  G01N 3/06
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
Show all

Return to Previous Page