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J-GLOBAL ID：200902272949566228   整理番号：08A0276671

隣接信号線を考慮した動的なオープン故障に対する故障診断法

Fault Diagnosis for Dynamic Open Faults with Considering Adjacent Lines

著者 (10件)： 高橋寛 (愛媛大 大学院) ,  樋上喜信 (愛媛大 大学院) ,  相京隆 (愛媛大 大学院) ,  門山周平 (愛媛大 大学院) ,  渡部哲也 (愛媛大 大学院) ,  高松雄三 (愛媛大 大学院) ,  堤利幸 (明治大) ,  山崎浩二 (明治大) ,  四柳浩之 (徳島大 大学院) ,  橋爪正樹 (徳島大 大学院)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 107  号： 482(DC2007 67-83)  ページ： 7-12  発行年： 2008年02月01日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 配線の微細化,長距離化に伴って,配線およびビアの断線(オープン)の欠陥によって生じる故障が顕在化している。本稿では,隣接信号線における信号変化によって励起する動的なオープン故障モデルおよびその故障診断法を提案する。まず,隣接信号線における信号変化によってオープン故障をもつ信号線に故障が励起する故障モデルを提案する。次に,動的なオープン故障モデルに基づく故障診断法を提案する。提案する故障診断法はフェイルテストパターンおよびパステストパターンを利用して故障候補を推定する。診断用故障シミュレーションの結果に基づいて故障候補の順位を決定する。最後に,提案した故障診断法をベンチマーク回路に適用した評価実験を行う。(著者抄録)

シソーラス用語： *故障診断 ,  モデル ,  動特性 ,  テストパターン ,  計算機シミュレーション ,  優先順位 ,  ベンチマーク ,  実験 ,  評価試験 ,  大規模系 ,  ベンチマーク回路 ,  評価実験 ,  断線 ,  計算機利用 ,  利用
準シソーラス用語： オープン故障 ,  *オープン故障モデル ,  故障シミュレーション

分類 (1件)： 信頼性  (KB04040H)

引用文献 (8件)：

• CHEN, W. Analytic models for crosstalk delay and pulse analysis under non-ideal inputs. Proc. Int. Test Conf., 1997. 1997, 809-818
• SATO, Y. A persistent diagnostic technique for unstable defects. Proc. Int. Test Conf., 2002. 2002, 242-249
• IRAJPOUR, S. Analyzing crosstalk in the presence of weak bridge defects. Proc. VLSI Test Symp., 2003. 2003, 385-392
• DESINENI, R. Diagnosis of arbitrary defects using neighborhood function extraction. Proc. VLSI Test Symp., 2005. 2005, 366-373
• BLANTON, R. D. Defect modeling using fault tuples. IEEE Trans. on Computer-Aided Design. 2006, 25, 11, 2450-2464

タイトルに関連する用語 (3件)： 信号線 ,  オープン故障 ,  故障診断