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J-GLOBAL ID：201602217950511946   整理番号：16A0187913

1軸傾斜電子線トモグラフィーと互換性を有する透過型電子顕微鏡用の新しい変形ホルダーの開発

Development of a novel straining holder for transmission electron microscopy compatible with single tilt-axis electron tomography

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著者 (6件)： SATO K. (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  MIYAZAKI H. (Mel-Build Corp., Fukuoka, JPN) ,  GONDO T. (Mel-Build Corp., Fukuoka, JPN) ,  MIYAZAKI S. (FEI Co. Japan Ltd., Tokyo, JPN) ,  MURAYAMA M. (Virginia Tech, VA, USA) ,  HATA S. (Kyushu Univ., Fukuoka, JPN)
資料名： Microscopy  (Microscopy)
巻： 64  号： 5  ページ： 369-375  発行年： 2015年10月 
JST資料番号： W1384A  ISSN： 2050-5698  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 材料科学に広範囲に応用可能な「変形トモグラフィー試料ホルダー」と呼ぶ,in situ透過型電子顕微鏡用の試料ホルダーを開発した。このホルダーは,TEM試料を引張応力下で変形でき,±60°まで高角度に傾斜できる仕様になっている。

シソーラス用語： *透過型電子顕微鏡 ,  その場観察 ,  *容器 ,  *引張試験 ,  傾斜 ,  *トモグラフィー ,  *試料容器
準シソーラス用語： 電子線トモグラフィー

分類 (1件)： 顕微鏡法  (BK01040E)

引用文献 (15件)：

• Fujita H (1967) Continuous observation of dynamic behaviors of dislocations in aluminum. J. Phys. Soc. Jpn 23: 1349-1361.
• Fujita H (1969) Continuous observation of annealing processes in cold-worked aluminum by high-voltage electron microscopy. J. Phys. Soc. Jpn 26: 1437-1445.
• Pócza J F, Barna A, Barna P B (1969) Formation processes of vacuum-deposited indium films and thermodynamical properties of submicroscopic particles observed by in-situ electron microscopy. J. Vac. Sci. Technol. 6: 472-474.
• Saka H, Imura T (1972) Direct measurement of mobility of edge and screw dislocations in 3% silicon-iron by high voltage transmission electron microscopy. J. Phys. Soc. Jpn 32: 702-716.
• Dehm G, Howe J M, Zweck J (ed.) (2012) In-situ Electron Microscopy: Applications in Physics, Chemistry and Materials Science. (Wiley-VCH Verlag & Co. KGaA, Weinheim, Germany).

タイトルに関連する用語 (5件)： 1軸 ,  電子線トモグラフィー ,  互換性 ,  透過型電子顕微鏡 ,  開発