特許
J-GLOBAL ID：200903094158428202
微細粒子成分分析装置
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (4件)：
光石 俊郎
, 光石 忠敬
, 田中 康幸
, 松元 洋
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-295713
公開番号（公開出願番号）：特開2008-111756
出願日： 2006年10月31日
公開日（公表日）： 2008年05月15日
要約：
【課題】ナノメータサイズの微細粒子の成分を分析する場合でも、校正を迅速に行うことができる微細粒子成分分析装置を提供する。【解決手段】大気をサンプリングするサンプリング装置111と、サンプリング装置111でサンプリングされたサンプリングガス1中から目的とする粒径のナノメータサイズの微細粒子2を分級して送出する静電式の分級器112と、分級器112からの微細粒子2の成分を分析するレーザイオン化飛行時間型の質量分析装置114と、検量成分3bを微細粒子の金属のコア3aに規定量被着させた検量体3を単位容積当り目的とする粒子数で生成させて分級器112へ送給する検量体生成装置10とを備えて微細粒子成分分析装置110を構成した。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
ガス中の微細粒子の成分を分析する微細粒子成分分析装置であって、
前記ガスをサンプリングするガスサンプリング手段と、
前記ガスサンプリング手段でサンプリングされた前記ガス中から目的とする粒径の前記微細粒子を分級して送出する分級手段と、
前記分級手段からの前記微細粒子の成分を分析する分析手段と、
検量成分を規定量有する微細粒子の検量体を単位容積当り目的とする粒子数で生成させて前記分級手段へ送給する検量体生成手段と
を備えていることを特徴とする微細粒子成分分析装置。
IPC (6件)：
G01N 1/00
, G01N 15/06
, G01N 27/62
, G01N 27/64
, G01N 1/22
, G01N 15/02
G01N1/00 C
, G01N15/06 D
, G01N27/62 K
, G01N27/64 B
, G01N1/22 G
, G01N1/22 D
, G01N1/00 102A
, G01N15/02 F
2G041CA01
, 2G041DA03
, 2G041EA07
, 2G041EA12
, 2G041GA06
, 2G041GA14
, 2G041GA23
, 2G041HA05
, 2G041LA08
, 2G052AA01
, 2G052AA02
, 2G052AC02
, 2G052AD04
, 2G052AD24
, 2G052AD44
, 2G052BA05
, 2G052CA04
, 2G052ED04
, 2G052GA11
, 2G052GA24
, 2G052HB07
, 2G052HB08
, 2G052JA09
出願人引用 (9件)
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審査官引用 (9件)
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