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J-GLOBAL ID：200902298323432687   整理番号：03A0310519

多探針STM-SEMを用いた硫化銀表面上銀突起成長の観察と制御

著者 (9件)： 田村拓郎 (物質・材料研究機構) ,  長谷川剛 (物質・材料研究機構) ,  中山知信 (物質・材料研究機構) ,  保坂純男 (群馬大 工) ,  寺部一弥 (物質・材料研究機構) ,  阪本利司 (JST-SORST) ,  砂村潤 (JST-SORST) ,  川浦久雄 (JST-SORST) ,  青野正和 (物質・材料研究機構)
資料名： 応用物理学関係連合講演会講演予稿集  (Extended Abstracts. Spring Meeting. Japan Society of Applied Physics and Related Societies)
巻： 50th  号： 2  ページ： 728  発行年： 2003年03月27日 
JST資料番号： Y0054A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： 硫化銀 ,...

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分類 (1件)： 金属薄膜  (BK14030T)

タイトルに関連する用語 (8件)： 探針 ,  STM ,  SEM ,  硫化銀 ,  銀 ,  突起 ,  成長 ,  観察