特許
J-GLOBAL ID：201303095986968236
放射線検査装置、放射線検査方法および放射線検査プログラム
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (2件)：
岩上 渉
, 吉田 大
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-225931
公開番号（公開出願番号）：特開2008-096425
特許番号：特許第4988482号
出願日： 2007年08月31日
公開日（公表日）： 2008年04月24日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 放射線を検査対象に照射する放射線照射手段と、
前記検査対象を透過した放射線の強度に対応した透過放射線画像を取得する放射線検出手段と、
基準の検査対象を撮影したときの透過放射線の強度が所定の強度になるようにオフセット補正するための補正画像データであって、一定かつ前記検査対象よりも大きい厚みの物体を透過した場合の放射線の強度である前記所定の強度に対応した放射線画像と、複数の前記検査対象の透過放射線画像を平均した平均画像との差分を示す補正画像データを取得する補正画像データ取得手段と、
前記補正画像データによって前記透過放射線画像をオフセット補正した結果に基づいて、前記検査対象に欠陥が含まれるか否かを判定する判定手段とを備えることを特徴とする放射線検査装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
出願人引用 (12件)
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特開昭59-081544
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不良品検出処理方法
公報種別：公開公報
出願番号：特願平5-182227
出願人：ライオンエンジニアリング株式会社
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特開昭61-155843
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審査官引用 (13件)
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特開昭59-081544
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特開平1-197641
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特開昭59-081544
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