文献

J-GLOBAL ID：200902041174132887   整理番号：92A0708704

順序回路の前方テスト生成に対する一手法

A Method for Forward Test Generation of Sequential Circuits.

著者 (3件)： 高松雄三 (愛媛大 工) ,  小川泰次郎 (愛媛大 工) ,  高橋寛 (愛媛大 工)
資料名： 電子情報通信学会論文誌 D-1  (IEICE Transactions on Information and Systems, Pt.1 (Japanese Edition))
巻： 75  号： 9  ページ： 864-873  発行年： 1992年09月 
JST資料番号： S0757B  ISSN： 0915-1915  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 本論文では,順序回路の前方テスト生成に対する一手法を提案する...

シソーラス用語： 順序回路 ,...

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分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

引用文献 (25件)：

• FUNATSU, S. Test generation system in Japan. Proc. 12th Design Automation Conf. 1975, 114-122
• EICHELBERGER, E. B. A logic design structure for LSI testing. Proc. 14th Design Automation Conf. 1977, 462-468
• ROTH, J. P. Diagnosis of automata failures : A calculus and a method. IBM J. Res. Develop. 1966, 10, 278-291
• GOEL, P. An implicit enumeration algorithm to generate tests for combinational logic circuits. IEEE Trans. Comput. 1981, C-30,3, 215-222
• FUJIWARA, H. On the acceleration of test generation algorithms. IEEE Trans. Comput. 1983, C-32,12, 1137-1144

タイトルに関連する用語 (3件)： 順序回路 ,  テスト生成 ,  手法