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文献
J-GLOBAL ID：200902289888977815
整理番号：05A0290268 検出/非検出情報に基づく複数故障モデルに対する故障診断法
A Method for Diagnosing Multiple Fault Models based on Detecting/un-detecting Information
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山崎亜佳根
(愛媛大 大学院理工学研究科)
, 愛媛大 大学院理工学研究科 について
精山哲也
(愛媛大 大学院理工学研究科)
, 愛媛大 大学院理工学研究科 について
高橋寛
(愛媛大 工)
, 樋上喜信
(愛媛大 工)
, 山崎浩二
(明治大)
, 高松雄三
(愛媛大 工)
資料名：
電子情報通信学会技術研究報告
(IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
電子情報通信学会技術研究報告 について
巻： 104 号： 664(DC2004 92-109) ページ： 87-92 発行年： 2005年02月11日
JST資料番号： S0532B ISSN： 0913-5685 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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LSIの微細化加工技術の進展ならびに高集積化・高速化に伴い,...
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シソーラス用語：
準シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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*故障診断
,...
故障診断 について
準シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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故障シミュレーション
,...
故障シミュレーション について
分類 (2件)：
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
信頼性
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
(KB04040H)
, 固体デバイス計測・試験・信頼性
信頼性 について
(NC03040G)
固体デバイス計測・試験・信頼性 について
引用文献 (12件)：
- G-DASTIDAR, J. Fault diagnosis in scan-based bist using both time and space information. Proc. Int. Test Conf., 1999. 1999, 95-102
- JEE, A. Carafe : An inductive fault analysis tool for cmos vlsi circuits. Proc. VLSI Test Symp., 1993. 1993, 92-98
- LAVO, D. B. Multiplets, models, and the search for meaning improving per-test fault diagnosis. Proc. Int. Test Conf., 2002. 2002, 250-259
- TAKAHASHI, H. On diagnosing multiple stuck-at faults using multiple and single fault simulation in combinational circuits. IEEE Trans. on Computer-Aided Design. 2002, 21, 3, 362-368
- WANG, Z. An efficient and effective methodology on the multiple fault diagnosis. Proc. Int. Test Conf., 2003. 2003, 329-338
タイトルに関連する用語 (3件)：
タイトルに関連する用語
J-GLOBALで独自に切り出した文献タイトルの用語をもとにしたキーワードです
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検出情報
, 検出情報 について
故障モデル
, 故障モデル について
故障診断
故障診断 について
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