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J-GLOBAL ID：200902289888977815   整理番号：05A0290268

検出/非検出情報に基づく複数故障モデルに対する故障診断法

A Method for Diagnosing Multiple Fault Models based on Detecting/un-detecting Information

著者 (6件)： 山崎亜佳根 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  精山哲也 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  高橋寛 (愛媛大 工) ,  樋上喜信 (愛媛大 工) ,  山崎浩二 (明治大) ,  高松雄三 (愛媛大 工)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 104  号： 664(DC2004 92-109)  ページ： 87-92  発行年： 2005年02月11日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： LSIの微細化加工技術の進展ならびに高集積化・高速化に伴い,...

シソーラス用語： *故障診断 ,...
準シソーラス用語： 故障シミュレーション ,...

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分類 (2件)： 信頼性  (KB04040H) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

引用文献 (12件)：

• G-DASTIDAR, J. Fault diagnosis in scan-based bist using both time and space information. Proc. Int. Test Conf., 1999. 1999, 95-102
• JEE, A. Carafe : An inductive fault analysis tool for cmos vlsi circuits. Proc. VLSI Test Symp., 1993. 1993, 92-98
• LAVO, D. B. Multiplets, models, and the search for meaning improving per-test fault diagnosis. Proc. Int. Test Conf., 2002. 2002, 250-259
• TAKAHASHI, H. On diagnosing multiple stuck-at faults using multiple and single fault simulation in combinational circuits. IEEE Trans. on Computer-Aided Design. 2002, 21, 3, 362-368
• WANG, Z. An efficient and effective methodology on the multiple fault diagnosis. Proc. Int. Test Conf., 2003. 2003, 329-338

タイトルに関連する用語 (3件)： 検出情報 ,  故障モデル ,  故障診断