ログイン
新規登録
小
中
大
ENGLISH
使い方
文献、特許、研究者などの科学技術情報サイト
詳細検索
すべて
すべて
研究者
文献
特許
研究課題
機関
科学技術用語
化学物質
資料
研究資源
同義語を見る
(0)
専門用語を詳しく探す
シソーラスmap
クリップ
ー
MyJ-GLOBAL
にログインしてご利用ください。
はじめての方はアカウント登録をお願いします。
MyJ-GLOBAL とは?
ログイン
新規登録
クリップ数の上限を超えました (最大クリップ数: 600)
閉じる
閉じる
検索
リセット
「検索方法」ページへ
詳細検索:
すべて
研究者
文献
特許
研究課題
機関
科学技術用語
化学物質
資料
研究資源
を探す
詳細検索を行う基本情報を選んでください
フリーワード
同義語を見る(0)
全て選択
全て外す
※以下の同義語を加えると、ヒット件数を増やすことができます。
and
not
氏名
所属機関名
職名
所属学会
研究分野
研究キーワード
更新日
J-GLOBAL ID
フィールド内で語句を追加
(ORのみ)
and
not
氏名
所属機関名
職名
所属学会
研究分野
研究キーワード
更新日
J-GLOBAL ID
フィールド内で語句を追加
(ORのみ)
and
not
タイトル
著者名
JGPN(名寄せID)
機関名
JGON(名寄せID)
発行年
資料名
発行国
言語
全文アクセス
DOI
ISSN/ISBN/CODEN
JST資料番号
外部リンク
被引用文献の有無
被引用特許の有無
J-GLOBAL ID
フィールド内で語句を追加
(ORのみ)
and
not
タイトル
著者名
JGPN(名寄せID)
機関名
JGON(名寄せID)
発行年
資料名
発行国
言語
全文アクセス
DOI
ISSN/ISBN/CODEN
JST資料番号
外部リンク
被引用文献の有無
被引用特許の有無
J-GLOBAL ID
フィールド内で語句を追加
(ORのみ)
and
not
タイトル
著者名
JGPN(名寄せID)
機関名
JGON(名寄せID)
発行年
資料名
発行国
言語
全文アクセス
DOI
ISSN/ISBN/CODEN
JST資料番号
外部リンク
被引用文献の有無
被引用特許の有無
J-GLOBAL ID
~
フィールド内で語句を追加
(ORのみ)
and
not
発明の名称
発明者
JGPN(名寄せID)
出願人/特許権者
JGON(名寄せID)
公報種別
出願番号
公開番号
出願年
公開年
概要
IPC
FI
Fターム
J-GLOBAL ID
フィールド内で語句を追加
(ORのみ)
and
not
発明の名称
発明者
JGPN(名寄せID)
出願人/特許権者
JGON(名寄せID)
公報種別
出願番号
公開番号
出願年
公開年
概要
IPC
FI
Fターム
J-GLOBAL ID
フィールド内で語句を追加
(ORのみ)
and
not
発明の名称
発明者
JGPN(名寄せID)
出願人/特許権者
JGON(名寄せID)
公報種別
出願番号
公開番号
出願年
公開年
概要
IPC
FI
Fターム
J-GLOBAL ID
フィールド内で語句を追加
(ORのみ)
and
not
課題名
実施研究者名
JGPN(名寄せID)
実施機関
JGON(名寄せID)
研究制度
研究概要
開始年度
終了年度
J-GLOBAL ID
フィールド内で語句を追加
(ORのみ)
and
not
課題名
実施研究者名
JGPN(名寄せID)
実施機関
JGON(名寄せID)
研究制度
研究概要
開始年度
終了年度
J-GLOBAL ID
フィールド内で語句を追加
(ORのみ)
and
not
課題名
実施研究者名
JGPN(名寄せID)
実施機関
JGON(名寄せID)
研究制度
研究概要
開始年度
終了年度
J-GLOBAL ID
フィールド内で語句を追加
(ORのみ)
and
not
機関名
所在地
研究分野
証券コード
有価証券報告書ナンバー
事業概要
J-GLOBAL ID
フィールド内で語句を追加
(ORのみ)
and
not
用語名
出典
J-GLOBAL ID
フィールド内で語句を追加
(ORのみ)
and
not
化学物質名
分子式
分子量(範囲指定)
日化辞番号
CAS番号
法規制番号
用途語
InChI
InChIkey
SMILES
KEGG Drug/KEGG COMPOUND
J-GLOBAL ID
フィールド内で語句を追加
(ORのみ)
and
not
化学物質名
分子式
分子量(範囲指定)
日化辞番号
CAS番号
法規制番号
用途語
InChI
InChIkey
SMILES
KEGG Drug/KEGG COMPOUND
J-GLOBAL ID
フィールド内で語句を追加
(ORのみ)
and
not
資料名
ISSN/ISBN/CODEN
JST資料番号
JST分類
出版社/団体名
会議名
発行国
資料内容種別
J-GLOBAL ID
フィールド内で語句を追加
(ORのみ)
and
not
資料名
ISSN/ISBN/CODEN
JST資料番号
JST分類
出版社/団体名
会議名
発行国
資料内容種別
J-GLOBAL ID
フィールド内で語句を追加
(ORのみ)
and
not
研究資源名
機関
J-GLOBAL ID
フィールド内で語句を追加
(ORのみ)
構造検索
構造検索の利用方法
NEW
R
FG
i
C
N
O
S
F
Cl
Br
I
P
X
JSME Molecular Editor by Peter Ertl and Bruno Bienfait
構造ファイル取込
ファイルを選択
MOLfileがご利用頂けます。 (V3000形式はご利用頂けません)
完全一致検索
部分構造検索 (substructure)
部分構造検索 (superstructure)
部分構造検索 (sub, super)
類似構造検索
閉じる
検索
研究者
J-GLOBAL ID:200901003226854417
更新日: 2020年05月09日
日下 征彦
クサカ マサヒコ | Kusaka Masahiko
所属機関・部署:
旧所属 岡山大学 理学部附属界面科学研究施設
旧所属 岡山大学 理学部附属界面科学研究施設 について
「旧所属 岡山大学 理学部附属界面科学研究施設」ですべてを検索
職名:
助教授
研究分野 (1件):
薄膜、表面界面物性
研究キーワード (7件):
表面・界面
, 薄膜
, 半導体
, Interface
, Surface
, Thin films
, Semiconductor
競争的資金等の研究課題 (2件):
半導体を中心とした表面・界面の構造と物性及び固体薄膜の作製と評価
Studies of electronic Properties and atomic Structure of semiconductor surfaces and interfaces
MISC (4件):
M Hirai, C Kamezawa, S Azatyan, Z An, T Shinagawa, T Fujisawa, M Kusaka, M Iwami. Interface study of transition metal (Fe, Zr) on 4H-SiC(0001)Si face: photoemission electron microscopy and soft X-ray fluorescence spectroscopy. APPLIED SURFACE SCIENCE. 2005. 249. 1-4. 362-366
Peem and SXES characterization on the Surface and Interface of the Transition-metal/SiC System. Surface Review and Letters. 2002. Vol. 9 No. 1 pp 313-318
Study of the reaction at Cu/3C-SiC interface. Surface Science. 2001. Vol. 493 pp182-187
Atomic and Electronic Structures of Heat Treated 6H-SiC Surface. Applied Surface Science. 1998. Vol. 130. 132 pp 593-597
学歴 (2件):
- 1964 東京学芸大学 学芸学部
- 1964 東京学芸大学
学位 (1件):
理学博士
所属学会 (8件):
日本放射光学会
, 日本表面科学会
, 応用物理学会
, 日本物理学会
, The Surface Science Society of Japan
, The Physical Society of Japan
, The Japanese Society for Synchrotron Radiation Research
, The Japan Society of Applied Physics
※ J-GLOBALの研究者情報は、
researchmap
の登録情報に基づき表示しています。 登録・更新については、
こちら
をご覧ください。
前のページに戻る
TOP
BOTTOM