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J-GLOBAL ID：200902122863767482   整理番号：01A0857245

X線領域における暗視野撮像「フクロウ」のための新しい光学系

A New Optics for Dark-Field Imaging in X-Ray Region ‘Owl’.

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著者 (6件)： ANDO M (High Energy Accelerator Res. Organization, Ibaraki, JPN) ,  SUGIYAMA H (High Energy Accelerator Res. Organization, Ibaraki, JPN) ,  MAKSIMENKO A (Graduate Univ. Advanced Studies, Kanagawa JPN) ,  PATTANASIRIWISAWA W (Graduate Univ. Advanced Studies, Kanagawa JPN) ,  HYODO K (High Energy Accelerator Res. Organization, Ibaraki, JPN) ,  ZHANG X (High Energy Accelerator Res. Organization, Ibaraki, JPN)
資料名： Japanese Journal of Applied Physics. Part 2. Letters  (Japanese Journal of Applied Physics. Part 2. Letters)
巻： 40  号： 8A  ページ： L844-L846  発行年： 2001年08月01日 
JST資料番号： F0599B  ISSN： 0021-4922  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 「フクロウ」と呼ばれるX線暗視野画像のためのX線光学系を提案...

シソーラス用語： *X線写真 ,...

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分類 (1件)： X線技術  (BA02060D)

引用文献 (27件)：

• 1) M. Ando, H. Sugiyama, Zhang X., K. Hyodo, A. Maksimenko and W. Pattansiriwisawa: Jpn. J. Appl. Phys. 40 (2001) L298.
• 2) M. Ando, J. Chen, K. Hyodo, K. Mori, H. Sugiyama, D. Xian and X. Zhang: Jpn. J. Appl. Phys. 39 (2000) L1009.
• 3) U. Bonse and M. Hart: Appl. Phys. Lett. 7 (1965) 99.
• 4) M. Ando and S. Hosoya: <I>Proc. 6th Int. Conf. X-Ray Optics & Microanalysis, Osaka, 1971</I>, eds. G. Shinoda, K. Kohra and T. Ichinokawa (Univ. of Tokyo Press, Tokyo, 1972) p. 63.
• 5) A. Momose, T. Takeda, Y. Itai and K. Hirano: Nat. Med. 2 (1996) 473.

タイトルに関連する用語 (4件)： X線 ,  暗視野 ,  撮像 ,  光学系