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J-GLOBAL ID：200902248692357632   整理番号：08A0942864

放射光を用いた時分割X線回折による多結晶BiFeO₃薄膜の電界誘起歪測定

著者 (6件)： 中嶋誠二 (大阪大 大学院) ,  坂田修身 (JASRI/SPring-8) ,  坂田修身 (JST-CREST) ,  金島岳 (大阪大 大学院) ,  舟窪浩 (東京工大 大学院総合理工学研究科) ,  奥山雅則 (大阪大 大学院)
資料名： 応用物理学会学術講演会講演予稿集  (Extended Abstracts. Annual Meeting. Japan Society of Applied Physics)
巻： 69th  号： 2  ページ： 457  発行年： 2008年09月02日 
JST資料番号： Y0055A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *シンクロトロン放射 ,  *鉄酸塩 ,  *ビスマス化合物 ,  *X線回折 ,  時分割処理 ,  多結晶 ,  *電歪 ,  レーザ蒸着 ,  強誘電体 ,  誘電体薄膜 ,  残留分極 ,  放射光施設 ,  結晶方位 ,  10-100keV ,  ヒステリシス ,  パルスレーザ蒸着
準シソーラス用語： SPring-8 ,  圧電定数

分類 (3件)： 酸化物薄膜  (BK14050P) ,  圧電気,焦電気,エレクトレット  (BM05040M) ,  強誘電体,反強誘電体,強弾性  (BM05030B)

タイトルに関連する用語 (9件)： 放射光 ,  時分割 ,  X線回折 ,  多結晶 ,  BiFeO3 ,  薄膜 ,  電界 ,  誘起 ,  歪測定