特許
J-GLOBAL ID：200903000693438107
微小粒子の光学的測定方法及び分取方法、並びに前記光学的測定方法及び分取方法に用いる流路、光学的測定装置及びフローサイトメータ
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
渡邊 薫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-290371
公開番号（公開出願番号）：特開2009-115672
出願日： 2007年11月08日
公開日（公表日）： 2009年05月28日
要約：
【課題】微小粒子を正確に測定及び分取可能な光学的測定方法等を提供すること。【解決手段】流路を通流する微小粒子を光学的に測定する方法であって、前記流路中の壁面の少なくとも一部に沿って参照用物質を含む層流を形成する参照用層流形成工程と、 前記流路の所定位置において、前記微小粒子及び前記参照用物質からの光学的情報を検出する光学的情報検出工程と、を少なくとも行う微小粒子の光学的測定方法を提供する。この方法によれば、必要に応じて、前記光学的情報に基づいて、各種測定条件を制御することができるため、微小粒子の分析を行う際の測定精度の向上、及び測定時間の短縮が実現できる。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
流路を通流する微小粒子を光学的に測定する方法であって、
前記流路中の壁面の少なくとも一部に沿って参照用物質を含む層流を形成する参照用層流形成工程と、
前記流路の所定位置において、前記微小粒子及び前記参照用物質からの光学的情報を検出する光学的情報検出工程と、
を少なくとも行う微小粒子の光学的測定方法。
IPC (1件)：
FI (2件)：
G01N15/14 A
, G01N15/14 P
出願人引用 (1件)
審査官引用 (5件)
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