特許
J-GLOBAL ID：200903002199902804
被測定面の局所的変形検出方法
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
八田 幹雄 (外4名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-206523
公開番号（公開出願番号）：特開2003-021510
出願日： 2001年07月06日
公開日（公表日）： 2003年01月24日
要約：
【要約】【課題】 被測定面に局所的に生じている変形(局所的変形)のみを正確に認識できるようにする。【解決手段】 三次元形状測定装置によって実測された、またはシミュレーション装置に記憶されている、被測定面のデータに基づいて得られた点群データを取得する段階と、前記点群データを構成する点群の各点を相互に結んで測定点近似メッシュを生成する段階と、前記測定点近似メッシュを構成する各点のデータとCAD装置にあらかじめ記憶されている前記被測定面のデータに基づいて得られた各点のデータとから各点ごとの誤差を演算する段階と、前記測定点近似メッシュを構成する点群の各点をあらかじめ定められた形状の二次元平面に写像する段階と、前記二次元平面に写像された測定点近似メッシュの各点に、演算された誤差を加えて差分曲面を生成する段階と、前記差分曲面を低次元の曲面で近似して大域的変形の要素だけを含んだ曲面を生成する段階と、前記差分曲面から前記大域的変形の要素だけを含んだ曲面を差し引いて、局所的変形の要素だけを含んだ曲面を生成する段階と、を有する。
請求項（抜粋）：
三次元形状測定装置によって実測された、またはシミュレーション装置に記憶されている、被測定面のデータに基づいて得られた点群データを取得する段階と、前記点群データを構成する点群の各点を相互に結んで測定点近似メッシュを生成する段階と、前記測定点近似メッシュを構成する各点のデータとCAD装置にあらかじめ記憶されている前記被測定面のデータに基づいて得られた各点のデータとから各点ごとの誤差を演算する段階と、前記測定点近似メッシュを構成する点群の各点をあらかじめ定められた形状の二次元平面に写像する段階と、前記二次元平面に写像された測定点近似メッシュの各点に、演算された誤差を加えて差分曲面を生成する段階と、前記差分曲面を低次元の曲面で近似して大域的変形の要素だけを含んだ曲面を生成する段階と、前記差分曲面から前記大域的変形の要素だけを含んだ曲面を差し引いて、局所的変形の要素だけを含んだ曲面を生成する段階と、を有することを特徴とする被測定面の局所的変形検出方法。
IPC (3件)：
G01B 21/20
, G01B 21/20 101
, G01B 21/00
G01B 21/20 A
, G01B 21/20 101
, G01B 21/00 E
2F069AA04
, 2F069AA66
, 2F069BB21
, 2F069GG01
, 2F069HH01
, 2F069JJ08
, 2F069MM04
