特許
J-GLOBAL ID：200903005837625960

電磁放射の測定方法

発明者：
マルクス ハウフ

マルクス ハウフ について

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トーマス クナル

トーマス クナル について

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ハインリッヒ ヴァルク

ハインリッヒ ヴァルク について

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ホルスト バルタザー

ホルスト バルタザー について

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ウヴェ ミュラー

ウヴェ ミュラー について


出願人/特許権者：
シュテアク アーエステー エレクトロニク ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング

シュテアク アーエステー エレクトロニク ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング について


代理人 (1件)： 矢野 敏雄 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-348407
公開番号（公開出願番号）：特開平11-237281
出願日： 1998年12月08日
公開日（公表日）： 1999年08月31日
要約：
【要約】【課題】 対象物に対し放射源から送出される電磁放射が照射され、放射源から送出された放射は第1の検出器により検出され、照射された対象物から発せられた放射は第2の検出器により検出されるような電磁放射の測定方法において、電磁放射の測定ならびにこの測定により導出されたパラメータおよび値の算出を簡単にしかもいっそう精確に実行できるようにする。【解決手段】 放射源から送出される放射を、特性パラメータを用いて能動的に変調する。対象物から反射した放射源の放射を補償するため、第2の検出器により検出された放射源からの放射を、第1の検出器により検出された放射によって補正する。
請求項（抜粋）：
対象物に対し少なくとも1つの放射源から送出される電磁放射が照射され、放射源から送出された放射は、少なくとも1つの第1の検出器により検出され、照射された対象物から発せられた放射は、放射を測定する少なくとも1つの第2の検出器により検出される形式の、電磁放射の測定方法において、少なくとも1つの放射源から送出される放射を、少なくとも1つの特性パラメータを用いて能動的に変調し、第2の検出器により検出された放射を、対象物から反射した放射源の放射を補償するため、第1の検出器により検出された放射によって補正することを特徴とする、電磁放射の測定方法。
IPC (2件)：
G01J 1/44 ,  G01J 5/10
FI (2件)：
G01J 1/44 A ,  G01J 5/10 B
引用特許：
審査官引用 (20件)
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