特許
J-GLOBAL ID：200903006588731840
速度計、変位計、振動計および電子機器
発明者：
,
,
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
山崎 宏
, 前田 厚司
, 仲倉 幸典
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-329917
公開番号（公開出願番号）：特開2005-098731
出願日： 2003年09月22日
公開日（公表日）： 2005年04月14日
要約：
【課題】小型化および低消費電力化できると共に、被測定物の移動速度を高精度に検出できる速度計を提供する。【解決手段】レーザーダイオード1の後端面から出射された第2の光束8はミラー5bで反射されて検出点14aに入射する。一方、レーザーダイオード1の前端面から出射された第1の光束7は回折格子3に入射する。これにより、回折格子3による0次回折光7gはミラー5aで反射されて検出点14aに入射し、回折格子3による±1次回折光7h,7iはミラー5c,5dに反射されて検出点14bに入射する。検出点14a,14bからの散乱光はフォトダイオード32a,32bで受光される。信号処理回路部10は、フォトダイオード32a,32bの出力Sa,Sbに基づいてその散乱光の周波数偏移量を算出する。【選択図】図13
請求項（抜粋）：
前端面から第1の光束を出射すると共に、後端面から第2の光束を出射する半導体発光素子と、
上記第1の光束を分岐する光分岐素子と、
上記第1の光束を分岐した上記複数の光束のうちの少なくとも1つの光束を被測定物の表面の第1検出点に照射すると共に、上記第1の光束を分岐した上記複数の光束のうちの少なくとも2つの光束を上記被測定物の表面の第2検出点に照射する第1の検出系と、
上記第2の光束を上記第1検出点に照射する第2の検出系と、
上記第1,第2検出点からの散乱光を受ける受光素子と、
上記受光素子の出力から上記散乱光の周波数偏移量を算出する信号処理回路部とを備えたことを特徴とする速度計。
IPC (3件)：
G01S7/48
, G01P3/36
, G01S17/02
G01S7/48 A
, G01P3/36 E
, G01S17/02 A
5J084AA05
, 5J084AA07
, 5J084AB15
, 5J084AD04
, 5J084BA04
, 5J084BA36
, 5J084BA37
, 5J084BB04
, 5J084BB10
, 5J084BB21
, 5J084BB30
, 5J084BB40
, 5J084EA31
出願人引用 (12件)
-
特開平3-235060号公報
-
特開平4-204104号公報
-
変位情報測定装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願平6-144609
出願人：キヤノン株式会社
全件表示
審査官引用 (8件)
-
特開平4-027869
-
速度測定装置およびその製造方法
公報種別：公開公報
出願番号：特願平9-298619
出願人：日本電信電話株式会社
-
特開平3-291523
全件表示
前のページに戻る
