特許
J-GLOBAL ID：200903013409638732

機器診断装置、冷凍サイクル装置、流体回路診断方法、機器監視システム、冷凍サイクル監視システム

発明者：
山下 浩司

山下 浩司 について

, 
豊島 正樹

豊島 正樹 について

, 
中田 浩

中田 浩 について


出願人/特許権者：
三菱電機株式会社

三菱電機株式会社 について


代理人 (4件)： 高橋 省吾 ,  稲葉 忠彦 ,  村上 加奈子 ,  中鶴 一隆
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-013165
公開番号（公開出願番号）：特開2005-207644
出願日： 2004年01月21日
公開日（公表日）： 2005年08月04日
要約：
【課題】 冷凍サイクルの故障診断装置は流体を取り扱うため精度が悪く、故障の予兆の検出、故障判定における実機個体差の吸収、故障原因の判定が出来ないと言う問題があった。又、安く実用的な診断装置、方法が無かった。【解決手段】 冷凍サイクル装置の圧力および温度等冷媒に関するもしくはその他の計測量を複数検出し、これらの計測量から複合変数のような状態量を演算し、演算結果を用いて装置の正常異常を判断する。正常運転時に学習させると現在の状態が判断できるし、強制的に異常運転を行わせて学習させたり、現在運転中に異常運転状態を演算させると、マハラノビスの距離の変化から運転限界などの故障予知が可能になる。これにより確実な診断を簡単な構成で実現できる。【選択図】 図2
請求項（抜粋）：
流体を吸引し吐出する機器の複数の計測量を計測する計測手段と、計測された複数の計測量の相関関係等を演算する演算手段と、運転が正常と判断される際に計測された前記計測量から求められた平均値などの演算値である状態量であって、少なくとも演算された複数の計測量の相関関係を含む状態量を前記機器の正常状態の状態量として記憶する正常状態量記憶手段と、を備え、前記正常状態量記憶手段の記憶する正常状態の状態量から演算して異常状態の状態量を求めることを特徴とする機器診断装置。
IPC (3件)：
F25B49/02 ,  F24F11/02 ,  G01M19/00
FI (4件)：
F25B49/02 520M ,  F25B49/02 520A ,  F24F11/02 103D ,  G01M19/00 Z
Fターム (18件)：
2G024AD13 ,  2G024BA12 ,  2G024BA27 ,  2G024CA16 ,  2G024CA17 ,  2G024CA18 ,  2G024DA15 ,  2G024DA16 ,  2G024DA21 ,  2G024DA25 ,  2G024EA01 ,  2G024EA02 ,  2G024FA02 ,  2G024FA06 ,  2G024FA11 ,  3L061BA01 ,  3L061BA05 ,  3L061BA06
引用特許：
出願人引用 (19件)
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審査官引用 (20件)
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