特許
J-GLOBAL ID：200903013496300998
テストストリップ用の試薬ストライプ
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
朝日奈 宗太
, 秋山 文男
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-517462
公開番号（公開出願番号）：特表2007-524824
出願日： 2004年06月18日
公開日（公表日）： 2007年08月30日
要約：
テストストリップ(10)が、ベース基板(12)、スペース層(14)とボディカバー(18)および室カバー(20)を備えるカバー層(16)を含む。スペース層(14)は、ベース基板(12)およびカバー層(16)のあいだに延伸するサンプル受け取り室(24)を提供するための空隙部分(22)を含む。ベース基板(12)は、複数の電極(28)とコンタクトパッド(32)で終結する電極トレース(30)を含む電極システム(26)をもつ。電極は、サンプル受け取り室(24)内に位置決めされる電極トレース(30)の部分と定義される。適切な試薬システム(33)が、サンプル受け取り室内の電極に重なる。スペース層(14)に重なるボディカバー(18)および室カバーが、そのあいだのスロット(34)を定め、該スロットは、サンプル流体が端開口または流体受け取り開口(35)から室に入るにしたがって、空気を逃すことを可能にするためにサンプル受け取り室と連通するベント開口を定める。したがって、テストストリップは、投与端(36)および計量器挿入端(38)を含む。
請求項（抜粋）：
その上に形成された作用電極と対極を有し、2つの側面縁および末端縁を有する基板、
該基板上に設けられ、試料受取チャンバーを少なくとも部分的に画定する空隙を有するスペース層、
該スペース層上に設けられた被覆層、および
試料受取チャンバーに配置され、前記基板の一部および電極の少なくとも一方を覆う試薬層
からなり、
前記試薬層が2つの側面縁までスペース層の下に延び、スペース層と基板のあいだに挟まれてなるテストストリップ。
IPC (3件)：
G01N 27/28
, G01N 27/327
, G01N 27/416
G01N27/28 331Z
, G01N27/30 353Z
, G01N27/30 353S
, G01N27/46 338
