特許
J-GLOBAL ID：200903014177217421
電子部品位置検出方法およびその装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
加藤 静富 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-120211
公開番号（公開出願番号）：特開平11-311506
出願日： 1998年04月30日
公開日（公表日）： 1999年11月09日
要約：
【要約】【課題】画像処理にあって、単一の処理方法により各種の形状をした電子部品の位置を汎用的に検出することができる電子部品位置検出方法およびその装置を提供する。【解決手段】画像処理による電子部品bの輪郭抽出に際し、上下,左右または上下左右の外接線で傾き角度の算出が可能な形状を有する電子部品bに対して、該電子部品bの傾きに追従した外接線20a3,20b3,20c3,20d3を多値化画像処理により求め、該外接線から該電子部品bの中心位置p2と傾き角度とを算出する。
請求項（抜粋）：
電子部品を供給部より吸着してプリント基板上に装着する電子部品装着装置において、撮像手段によって撮像された電子部品の撮像データを画像処理し、その画像処理情報から電子部品の中心位置と傾き角度とを求める電子部品位置検出方法にあって、画像処理による電子部品の輪郭抽出に際し、上下,左右または上下左右の外接線で傾き角度の算出が可能な形状を有する電子部品に対して、該電子部品の傾きに追従した外接線を多値化画像処理により求め、該外接線から該電子部品の中心位置と傾き角度とを算出することを特徴とする電子部品位置検出方法。
IPC (5件)：
G01B 11/00
, G01B 11/26
, G06T 7/00
, G06T 7/60
, H05K 13/08
G01B 11/00 H
, G01B 11/26 H
, H05K 13/08 Q
, G06F 15/62 405 C
, G06F 15/70 350 H
