特許
J-GLOBAL ID:200903015710437486

発光ダイオードの構造及びその製造方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (6件): 竹本 松司 ,  杉山 秀雄 ,  湯田 浩一 ,  魚住 高博 ,  手島 直彦 ,  白石 光男
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-284034
公開番号(公開出願番号):特開2009-111269
出願日: 2007年10月31日
公開日(公表日): 2009年05月21日
要約:
【課題】切削線領域の表面に複数の凹部と凸部を形成した発光ダイオードの提供。【解決手段】基板を溶液内に置いて反応させ、その切削線領域の表面に化学反応層を形成し、その後、選択性エッチングにより、切削線領域の表面に複数の凹部と凸部を形成し、更にエピタキシャル成長技術を利用し、半導体層構造を該基板表面の素子領域と切削線領域に成長させる。その後、更にリソグラフィー工程を利用し、素子領域上の半導体層構造に発光ダイオード素子を形成させる。【選択図】図5
請求項(抜粋):
発光ダイオードの製造方法において、 基板(10)を提供し、その表面に鈍化層(11)を成長させ、並びに該鈍化層(11)をパターン化し、該鈍化層(11)に被覆される素子領域(101)と該基板(10)表面に露出する切削線領域(102)を画定する工程、 該基板(10)を第1溶液内に置いて反応させ、該切削線領域(102)の露出した基板(10)表面に高密度の化学反応層(103)を形成する工程、 その後、該鈍化層(11)と該化学反応層(103)をマスクとし、該基板(10)の切削線領域(102)に対して選択性エッチングを行い、該切削線領域(102)において該化学反応層(103)のない部分の複数の凹部(104)と上方に該化学反応層(103)を有する凸部(105)を形成する工程、 更に該基板(10)を第2溶液内に置いてエッチングし、該化学反応層(103)を除去し、該基板(10)の切削線領域(102)表面に凹部(104)と凸部(105)を具えた不規則幾何形状を形成する工程、 該鈍化層(11)を除去し、且つ該基板(10)表面をクリーニングする工程、 該基板(10)の表面の素子領域(101)と切削線領域(102)にエピタキシャル成長技術を利用して、半導体層構造(20)を成長させ、且つ該切削線領域(102)上の半導体層構造(20)の表面に、複数の半導体層凹部(204)と半導体層凸部(205)を具備させる工程、 リソグラフィー工程により、素子領域(101)上の半導体層構造(20)に発光ダイオード素子(30)を形成させる工程、 を包含したことを特徴とする、発光ダイオードの製造方法。
IPC (1件):
H01L 33/00
FI (1件):
H01L33/00 A
Fターム (11件):
5F041AA03 ,  5F041AA40 ,  5F041AA42 ,  5F041CA04 ,  5F041CA12 ,  5F041CA46 ,  5F041CA74 ,  5F041CA75 ,  5F041CA91 ,  5F041CB15 ,  5F041CB36
引用特許:
出願人引用 (1件)
  • 米国特許第7,075,115号明細書
審査官引用 (8件)
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