特許
J-GLOBAL ID：200903020811058862

磁気計測による探傷方法及び装置

発明者：
榎園 正人

榎園 正人 について


出願人/特許権者：
科学技術振興事業団

科学技術振興事業団 について


代理人 (1件)： 清水 守
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-301785
公開番号（公開出願番号）：特開2000-131287
出願日： 1998年10月23日
公開日（公表日）： 2000年05月12日
要約：
【要約】【課題】 簡単な構造の差動渦電流型センサーを用いて、感度が良好で精度の高い磁気計測による探傷方法及び装置を提供する。【解決手段】 磁気計測による探傷にあたり、励起コイル2とサーチコイル5を有するセンサー1を導電性を有する被探傷体上に配置し、前記センサー1で前記被探傷体を走査することにより渦電流の変化を示すスペクトログラムを得て、そのスペクトログラムを解析し、前記被探傷体の探傷を行う。
請求項（抜粋）：
磁気計測による探傷方法において、励磁コイルとサーチコイルを有するセンサーを導電性を有する被探傷体上に配置し、前記センサーで前記被探傷体を走査することにより渦電流の変化を示すスペクトログラムを得て、該スペクトログラムを解析し、前記被探傷体の探傷を行うことを特徴とする磁気計測による探傷方法。
Fターム (9件)：
2G053AA11 ,  2G053AB21 ,  2G053BA15 ,  2G053BC02 ,  2G053BC07 ,  2G053BC14 ,  2G053CA03 ,  2G053CB29 ,  2G053DB03
引用特許：
審査官引用 (12件)
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