特許
J-GLOBAL ID:200903022343845579
線形マルチポートのシステムパラメータの測定方法及び装置、ベクトルネットワークアナライザを用いた測定方法並びにプログラム
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (2件):
成瀬 重雄
, 大木 健一
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-236139
公開番号(公開出願番号):特開2009-068932
出願日: 2007年09月12日
公開日(公表日): 2009年04月02日
要約:
【課題】 ベクトルネットワークアナライザ(VNA)などに用いられる5ポート接合や6ポート接合などのシステムパラメータの計算時間を短縮する。その測定回路の構成を簡単にする。【解決手段】 VNAでDUT(Device Under Test)を測定するにはシステムパラメータが必要であるが、従来は、入力ポートの複素振幅比W=a2/a1の複素平面における3つの円の中心点の位置と半径からシステムパラメータを算出したので、公知の積分法のように複雑な手順が必要であった。本発明では、システムパラメータkの複素平面における3つの円の交点に基づき算出する。例えば、位相が120°づつ異なる3つの波を5ポート接合の入力ポートに順次入れ、予め定めた基準電力で正規化した出力電力値に基づきシステムパラメータを計算する。従来の積分法と比べて計算が簡単になり、また移相器も不要である。【選択図】 図2
請求項(抜粋):
5ポート接合や6ポート接合などの2つの入力ポートと3つ以上の出力ポートを備える線形回路であって各出力ポートから出てくる波が前記2つの入力ポートに入る波の線形式で表される線形回路(以下、「線形マルチポート」と記す)に関して、前記線形マルチポートに固有の値であるシステムパラメータを測定する方法であって、
互いに位相が異なる第1の波、第2の波及び第3の波を用意し、前記線形マルチポートの一方の入力ポート1に予め定められた波(以下、「基準波a1」と記す)を入れ、他方の入力ポート2に前記第1の波、第2の波又は第3の波のいずれか(以下、「測定波a2」と記す)を入れたときの、前記基準波a1に対する前記第1の波、第2の波、第3の波の複素振幅比をそれぞれW0、W1、W2(ただし、W=a2/a1)に設定する位相設定ステップと、
前記線形マルチポートの一方の入力ポート1に前記基準波a1を入れるとともに、他方の入力ポート2を整合終端する基準電力測定準備ステップと、
前記線形マルチポートの各出力ポートの電力を測定し、それらを基準電力P3r、P4r、P5r・・・とする基準電力測定ステップと、
前記他方の入力ポート2の整合終端を外し、前記他方の入力ポート2に前記第1の波、第2の波、第3の波を順次加え、それぞれの波に対応する各出力ポートの電力{P30、P40、P50・・・}{P31、P41、P51・・・}{P32、P42、P52・・・}を順次測定する電力測定ステップと、
前記第1の波、第2の波、第3の波に対応して測定された前記各出力ポートの電力{P30、P40、P50・・・}{P31、P41、P51・・・}{P32、P42、P52・・・}を前記基準電力P3r、P4r、P5r・・・で正規化する正規化ステップと、
正規化された前記各出力ポートの電力、及び、前記複素振幅比W0、W1、W2に基づき前記システムパラメータkhを計算するか、又は、正規化された前記各出力ポートの電力、前記第1の波と第2の波の位相差ψ01及び前記第1の波と第3の波の位相差ψ02に基づき前記システムパラメータkhの比hkiを計算することのいずれかを行うシステムパラメータ計算ステップと、を備える線形マルチポートのシステムパラメータ測定方法。
IPC (2件):
FI (2件):
Fターム (8件):
2G028CG15
, 2G028CG18
, 2G028CG30
, 2G028DH15
, 2G028FK07
, 2G028GL02
, 2G028GL03
, 2G028GL12
引用特許:
出願人引用 (5件)
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米国特許第4104583号 6ポート型リフレクトメータ(Six-Port Reflectometer)が開示されている。これは、校正により得られるシステム固有のハードウェア情報(校正パラメータ)と、複数の電力測定値(スカラー量)から、2つの波の振幅比と位相差(ベクトル量)を導出するものである。この装置及びこれを用いた測定方法によれば、従来方式では周波数が高くなるに従って高精度な測定が困難となる位相差を、電磁波計測において基本測定量であり、かつ、計測精度が周波数に殆ど依存しない、電力値というスカラー量の計測を基に求めることができる。特許文献1記載の技術によれば、従来の高精度なハードウェアの要請から開放され、4つの電力測定と、ハードウェアの不完全さを校正と呼ばれるソフトウェア(システムパラメータ)で補正することが特徴である。
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7ポート型コリレータとその校正方法および7ポート型コリレータを用いたベクトル・ネットワーク・アナライザ装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2002-010352
出願人:矢加部利幸, 中央電子株式会社
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移相器を用いた直接校正によるコリレータ
公報種別:公開公報
出願番号:特願2004-029482
出願人:矢加部利幸, 李可人, 中央電子株式会社
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審査官引用 (9件)
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引用文献:
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