特許
J-GLOBAL ID：200903025342566284

半導体集積回路とそのテスト方法

発明者：
尾田 眞也

尾田 眞也 について


出願人/特許権者：
日本電気株式会社

日本電気株式会社 について


代理人 (1件)： 尾身 祐助
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-016619
公開番号（公開出願番号）：特開2002-221558
出願日： 2001年01月25日
公開日（公表日）： 2002年08月09日
要約：
【要約】【課題】 半導体集積回路の入・出力バッファ回路のテストを、専用のテストデータを用意したり特殊な回路を挿入したりすることなく、行い得るようにする。【解決手段】 テストモード時はモード切り替え信号TESTをハイとする。これにより、セレクタ回路SEL1、2は内部回路からの信号に代えシーケンサSQで生成されたテストイネーブル信号TEB0とテスト出力データTOUT0を通過させることができるようになる。また、AND5はFF3の出力信号の内部回路への伝達を遮断する。テスト出力データTOUT0の出力バッファBUF1からの出力信号を入・出力端子P0にテスタを接続して監視するとともに、その信号を入力回路(BUF2,FF3)に入力する。FF3の出力信号をテスト入力信号TIN0としてシーケンサSQに入力し、これとテスト出力データTOUT0とを比較することにより、信号の入・出力回路の通過状態を検証する。
請求項（抜粋）：
内部回路の出力信号を外部端子に伝達する出力回路と、外部端子からの入力信号を前記内部回路に伝達する入力回路とを備える半導体集積回路において、テスト用信号を発生しテスト結果を出力するテスト用回路を更に備え、テストモード時には前記出力回路への入力信号が前記内部回路の出力信号から前記テスト用信号に切り替えられ、かつ、前記入力回路の出力信号の伝達先が前記内部回路から前記テスト用回路に切り替えられることを特徴とする半導体集積回路。
IPC (2件)：
G01R 31/3185 ,  G01R 31/28
FI (2件)：
G01R 31/28 W ,  G01R 31/28 V
Fターム (11件)：
2G132AA01 ,  2G132AA17 ,  2G132AC03 ,  2G132AG01 ,  2G132AG08 ,  2G132AH03 ,  2G132AH07 ,  2G132AK15 ,  2G132AK22 ,  2G132AL00 ,  2G132AL05
引用特許：
審査官引用 (14件)
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