特許
J-GLOBAL ID:200903029048001673

エバネッセント波を用いた粉末若しくは粉末を固めた試料片の紫外可視吸収スペクトル測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 杉山 一夫
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-046085
公開番号(公開出願番号):特開2005-233884
出願日: 2004年02月23日
公開日(公表日): 2005年09月02日
要約:
【課題】前処理を行わないそのままの形の粉末、特に5mm〜数nmの粒径の粉末若しくは粉末を固めた試料片について、紫外可視吸収スペクトルの測定を容易にする。また、電気、磁気、光、熱等の刺激を加えながら紫外可視吸収スペクトルの測定を可能とする。【解決手段】スラブ型光導波路5又はプリズム上に粉末、特に5mm〜数nmの粒径の粉末若しくは粉末を固めた試料片を置き、スラブ型光導波路5又はプリズム内で全反射するようになした紫外可視プローブ光により生じたエバネッセント波が試料により吸収されることを利用して、紫外可視吸収スペクトルを測定する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
光源と、前記光源から発射された光を集光する入射側集光光学系と、該入射側集光光学系で集光された光を内部において1回反射させるプリズム、或いは複数回反射させるスラブ型光導波路と、前記プリズム或いはスラブ型光導波路から出射した光を吸収スペクトル測定する分光器とからなるエバネッセント波を用いた粉末若しくは粉末を固めた試料片の紫外可視吸収スペクトル測定装置。
IPC (3件):
G01N21/27 ,  G01N21/01 ,  G01N21/33
FI (3件):
G01N21/27 C ,  G01N21/01 B ,  G01N21/33
Fターム (16件):
2G059AA03 ,  2G059BB09 ,  2G059DD13 ,  2G059DD16 ,  2G059EE02 ,  2G059EE12 ,  2G059GG10 ,  2G059HH02 ,  2G059HH03 ,  2G059JJ01 ,  2G059JJ12 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ19 ,  2G059JJ30 ,  2G059KK04 ,  2G059PP04
引用特許:
審査官引用 (7件)
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