特許
J-GLOBAL ID:200903029135673165
X線操作装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (5件):
熊倉 禎男
, 大塚 文昭
, 宍戸 嘉一
, 弟子丸 健
, 井野 砂里
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-519870
公開番号(公開出願番号):特表2008-505340
出願日: 2005年07月04日
公開日(公表日): 2008年02月21日
要約:
【課題】画像のエッジ鮮明度をシャープにできるX線検査装置のためのフレームの提供。【解決手段】X線検査装置のためのフレーム(10)が、弧状フレーム(21)が枢着された構造部材(16)を有する。X線源(12)が、使用にあたり、構造部材(16)に直接取り付けられ、X線検出器(13)が、フレーム(21)回りに動くことができる。画像化されるべき物品のための3軸サンプル支持体が、X線源(12)とX線検出器(13)との間に配置されている。本発明のフレームは、剛性が特に高い。【選択図】図1
請求項(抜粋):
X線検査装置のためのフレームであって、サンプル支持体が3つの相互に垂直な平面内で動くことができるよう取り付けられた構造部材を有し、前記構造部材は、X線発生器を前記サンプル支持体の一方の側に直接取り付けるようになっており、前記サンプル支持体の他方の側では弧状フレームが前記構造部材に回動可能に取り付けられ、前記弧状フレームには弧状レールが設けられ、前記レールは、X線検出器を前記弧状フレーム回りに運動可能に取り付けるようになっている、フレーム。
IPC (2件):
FI (2件):
Fターム (9件):
2G001AA01
, 2G001BA11
, 2G001CA01
, 2G001LA11
, 2G001PA11
, 2G001QA01
, 2G001SA01
, 2G001SA08
, 2G001SA13
引用特許:
審査官引用 (10件)
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X線検査装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2003-005916
出願人:京セラ株式会社, メディエックステック株式会社
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X線検査装置及びX線検査方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2004-248706
出願人:松下電器産業株式会社
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特開昭62-074332
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接続検査方法及び接続検査装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2000-136881
出願人:富士通株式会社
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X線透視撮影装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2001-191258
出願人:株式会社島津製作所
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X線検査装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平11-090876
出願人:京セラ株式会社, メディエックステック株式会社
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エックス線可変斜視角透視装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2000-010764
出願人:日立電子株式会社, 株式会社日立国際電気
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結晶評価装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2002-176435
出願人:理学電機株式会社, 理化学研究所
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特開昭50-028388
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円弧状スライダー駆動式ゴニオメータおよび立体角回折計
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-275039
出願人:新日本製鐵株式会社
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