特許
J-GLOBAL ID:200903029670531485
薄膜の堆積装置
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
高田 守 (外4名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平6-326972
公開番号(公開出願番号):特開平8-186103
出願日: 1994年12月28日
公開日(公表日): 1996年07月16日
要約:
【要約】【目的】 液体のCVD原料を使用するCVD装置に対して、成膜時に安定した組成のCVD原料蒸気を反応室へ供給することができ、高品質な薄膜を基板上に形成することができる手段を得ることを目的とする。【構成】 CVD装置には、気化したCVD原料の濃度を検出する質量分析計20が設けられ、該質量分析計20のサンプリング部が、CVD原料を気化器4から反応室15へ輸送する原料ガス輸送管10に臨んで配置されている。かくして、質量分析計20によって、反応室15に供給されるCVD原料蒸気中のBa、Sr、Ti濃度が分析され、これに基づいてCVD原料の組成が目標値と一致するよう制御され、基板上に高品質な薄膜が形成される。
請求項(抜粋):
有機金属錯体を溶媒に溶解させてなるCVD原料を保持する原料容器と、該CVD原料を定量供給する液体供給器と、該液体供給器から供給されたCVD原料を加熱して気化させる気化器と、気化したCVD原料を用いて基板上に薄膜を形成する反応室とを有するCVD法による薄膜の堆積装置において、気化したCVD原料の濃度を検出する質量分析計が設けられ、該質量分析計のサンプリング部が気化器と反応室との間のCVD原料供給系に臨んで配置されていることを特徴とする薄膜の堆積装置。
IPC (9件):
H01L 21/31
, C23C 16/18
, C23C 16/52
, H01L 21/205
, H01L 21/316
, H01L 27/04
, H01L 21/822
, H01L 27/108
, H01L 21/8242
FI (2件):
H01L 27/04 C
, H01L 27/10 651
引用特許:
審査官引用 (19件)
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蒸気形状の試薬をCVD反応器に分配させるための装置および方法
公報種別:公表公報
出願番号:特願平6-521092
出願人:アドバンスド.テクノロジー.マテリアルズ.インコーポレイテッド
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特開平4-022126
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特開平2-261529
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特開昭48-071399
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特開昭58-086719
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特開平3-018016
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特開平3-245524
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特開平4-098784
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特開平4-333570
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特開平4-354326
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誘電体薄膜形成装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平3-297026
出願人:株式会社日立製作所
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薄膜製造装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平3-246406
出願人:株式会社東芝
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X線分析装置及びこれを用いた半導体製造装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-095144
出願人:株式会社日立製作所
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化学反応の最適条件を決定する方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-239182
出願人:株式会社日立製作所
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液体気化供給方法と液体気化供給器
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-082860
出願人:株式会社リンテック
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液体原料用CVD装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-100869
出願人:菱電セミコンダクタシステムエンジニアリング株式会社, 三菱電機株式会社
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CVD装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-238315
出願人:菱電セミコンダクタシステムエンジニアリング株式会社, 三菱電機株式会社
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気化装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-170804
出願人:株式会社高純度化学研究所
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薄膜形成方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-156045
出願人:日立電子エンジニアリング株式会社
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