特許
J-GLOBAL ID:200903030016397174

雑音成分測定装置及び変調補正装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 雨貝 正彦
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-195489
公開番号(公開出願番号):特開2001-044762
出願日: 1999年07月09日
公開日(公表日): 2001年02月16日
要約:
【要約】【課題】 直交変調器の出力に含まれる雑音成分を安価でかつ簡易に測定できるようにする。また、その測定した結果に基づいてその雑音成分を抑制する。【解決手段】 直交変調処理された伝送信号には、キャリアフィールドスルー成分の雑音と逆サイドバンド成分の雑音が存在する。測定したい雑音信号の周波数に対応した周波数の信号に基づいて伝送信号を周波数変換部117でダウンコンバートし、それを帯域通過フィルタ119を通過させて、検波回路121で雑音成分に対応した信号の実効値に変換する。雑音成分を低周波に変換してから観察しているので、簡易な回路で構成でき、その測定も容易になる。また、変調補正回路130は、雑音成分が減少するように位相・振幅調整部102,103による振幅や位相の調整量、並びにDCバイアス可変回路104、105が信号波に供給するバイアス電圧の値を制御している。
請求項(抜粋):
所定の変調処理によって変調された伝送信号を入力する入力手段と、前記入力手段から入力される前記伝送信号に含まれる雑音信号に対応した所定の周波数の信号に基づいて、前記伝送信号をダウンコンバートする周波数変換手段と、前記周波数変換手段によってダウンコンバートされた信号の中から前記雑音信号に対応する帯域の信号のみを通過させるフィルタ手段と、前記フィルタ手段を通過した信号を検波する検波手段とを備えることを特徴とする雑音成分測定装置。
IPC (3件):
H03C 1/06 ,  H04L 27/00 ,  H04L 27/20
FI (3件):
H03C 1/06 ,  H04L 27/20 Z ,  H04L 27/00 A
Fターム (10件):
5J002BB06 ,  5J002BB11 ,  5J002BB17 ,  5J002BB29 ,  5J002BB32 ,  5J002DD05 ,  5J002EE01 ,  5K004AA05 ,  5K004FA26 ,  5K004FD04
引用特許:
審査官引用 (9件)
  • 送信機
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平8-225377   出願人:埼玉日本電気株式会社
  • 送信装置における直交変調器の補償回路
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平8-133892   出願人:富士通テン株式会社
  • 歪補償方式
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平7-239594   出願人:富士通株式会社
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