特許
J-GLOBAL ID:200903030242244100
ドライエッチング方法
発明者:
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出願人/特許権者:
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代理人 (2件):
内田 幸男 (外1名)
, 内田 幸男
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平9-312906
公開番号(公開出願番号):特開平10-189553
出願日: 1997年10月30日
公開日(公表日): 1998年07月21日
要約:
【要約】【課題】 フォトレジストおよびシリコン基体に対して高い選択性を示し、且つ高速でエッチングすることができ、しかも、シリコン基体の低温制御の必要のないドライエッチング方法を提供する。【解決手段】 パーフルオロシクロオレフィンを含むエッチング用ガスを用いて、被エッチング基体の到達温度を実質的に制御することなしにエッチングを行う。
請求項(抜粋):
パーフルオロシクロオレフィンを含むドライエッチング用ガスを用いて、被エッチング基体の到達温度を実質的に制御することなくドライエッチングすることを特徴とするドライエッチング方法。
IPC (2件):
FI (2件):
H01L 21/302 F
, C23F 4/00 E
引用特許:
審査官引用 (12件)
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特開昭57-155732
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ドライエッチング方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-060755
出願人:ソニー株式会社
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特開昭57-108267
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特開昭57-155732
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特開昭57-108267
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ドライエッチング装置および半導体装置の製造方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-121509
出願人:日本電気株式会社
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プラズマ処理における基板温度制御方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-145736
出願人:日電アネルバ株式会社
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ドライエッチング方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-092527
出願人:松下電器産業株式会社
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特開昭57-155732
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特開昭57-108267
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エッチング方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-043532
出願人:東京エレクトロン株式会社, 株式会社東芝
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エッチング方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-085575
出願人:東京エレクトロン株式会社
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