特許
J-GLOBAL ID:200903034238921713

サンプル提供支援システム及びサンプル提供方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 木村 満
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-309845
公開番号(公開出願番号):特開2002-117302
出願日: 2000年10月10日
公開日(公表日): 2002年04月19日
要約:
【要約】【課題】 サンプル提供業者の在庫を抑えつつ、サンプルのオーダーから顧客への入着までの時間を短縮する。【解決手段】 サーバ300は、在庫DBのデータから、実際に存在して提供可能なサンプル製品についての情報をWeb上で提供する。顧客はWebページ上で、サンプル製品をオーダする。サンプル提供者は、ページ上に入力されたオーダからサンプルの種類と数を求めて発送する。一部のサンプルについては、トリミング処理が可能な調整回路を備えるサンプル素子を使用し、このサンプル素子にレーザトリミングなどを施すことにより、サンプル素子の物理的或いは電気的特性を修正し、顧客の要求する仕様に合致させる。
請求項(抜粋):
提供可能なサンプル製品についての情報をネットワーク上で提示するサンプル製品情報提供手段と、前記サンプル製品情報提供手段により情報が提示されたサンプル製品について、サンプル製品提供の申込をネットワーク上で受け付ける注文受付手段と、受け付けた申し込み情報を保存し、サンプル製品発送のために提供する保存手段と、を備えることを特徴とするサンプル提供支援システム。
IPC (4件):
G06F 17/60 320 ,  G06F 17/60 ZEC ,  G06F 17/60 302 ,  G06F 17/60 306
FI (4件):
G06F 17/60 320 ,  G06F 17/60 ZEC ,  G06F 17/60 302 A ,  G06F 17/60 306
Fターム (7件):
5B049BB07 ,  5B049CC05 ,  5B049CC27 ,  5B049DD01 ,  5B049EE05 ,  5B049FF01 ,  5B049GG02
引用特許:
審査官引用 (11件)
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